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CSPM5500型原子力顯微鏡

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海胤煌科技有限公司
  • 品牌 貝拓科學(xué)
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2021/9/2 10:44:24
  • 訪問(wèn)次數(shù) 1818

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上海胤煌科技有限公司是一家專注于為半導(dǎo)體、面板、醫(yī)藥及材料行業(yè)提供檢測(cè)分析設(shè)備及技術(shù)服務(wù)的高科技公司,公司擁有檢測(cè)平臺(tái)可以為客戶提供專業(yè)的第三方檢測(cè)服務(wù)。

上海胤煌科技有限公司以“優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品 專業(yè)技術(shù) 完善服務(wù) 讓檢測(cè)分析更專業(yè)”為服務(wù)宗旨。致力于為客戶提供全面準(zhǔn)確的檢測(cè)分析解決方案。上海胤煌科技有限公司成員在半導(dǎo)體和醫(yī)藥行業(yè)擁有近10年行業(yè)經(jīng)驗(yàn),于2018年6月在上海成立,現(xiàn)地址位于聚集醫(yī)藥和半導(dǎo)體企業(yè)的上海浦東新區(qū)。

上海胤煌科技有限公司目前經(jīng)營(yíng)的產(chǎn)品有傘棚燈、納米粒度儀、Zeta電位分析儀、原液納米粒度及Zeta電位分析儀、顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒分析儀、接觸角、薄膜相變測(cè)量?jī)x、等檢測(cè)分析設(shè)備、可以為半導(dǎo)體、面板、醫(yī)藥及材料等相關(guān)領(lǐng)域提供專業(yè)的檢測(cè)分析設(shè)備。

 

 

顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀,超聲粒度儀銷售,多功能超聲粒度分析儀,粒度及Zeta電位分析儀,超聲波粒度儀,澄清度檢查專用傘棚燈,傘棚燈,超聲粒度儀超聲電位分析儀

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
儀器種類 原子力顯微鏡 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,地礦,電子

 CSPM5500型原子力顯微鏡

儀器簡(jiǎn)介:

    CSPM5500是本原納米儀器有限公司于2008年8月研制成功的新一代掃描探針顯微鏡,其功能齊全、性能*、運(yùn)行穩(wěn)定、使用方便,非常適合用戶開(kāi)展納米研究工作。


技術(shù)參數(shù):

(1)國(guó)際主流的研究級(jí)專業(yè)儀器,集成原子力顯微鏡(AFM),橫向力顯微鏡(LFM),掃描隧道顯微鏡(STM)
(2)分辨率:
    原子力顯微鏡:橫向0.2nm,垂直0.1nm(以云母晶體標(biāo)定)
    掃描隧道顯微鏡:橫向0.1nm,垂直0.01nm(以石墨晶體標(biāo)定)
(3)高精度計(jì)量型儀器,采用NanoSensors提供的可溯源于國(guó)際計(jì)量權(quán)wei機(jī)構(gòu)Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)
(4)一鍵式快速全程全自動(dòng)進(jìn)樣,無(wú)需手動(dòng)預(yù)調(diào),行程大于30mm,可容納超大樣品
(5)兩級(jí)可讀數(shù)樣品調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu),可對(duì)樣品進(jìn)行精確的檢測(cè)區(qū)域定位
(6)一次掃描技術(shù),圖像分辨高達(dá)4096×4096物理象素,微米級(jí)掃描即可得到納米級(jí)的實(shí)際信息
(7)先進(jìn)PID反饋算法實(shí)現(xiàn)快速高精度作用力控制,確保系統(tǒng)在高速掃描中穩(wěn)定成像,實(shí)際掃描速度提升一個(gè)數(shù)量級(jí)
(8)系統(tǒng)采用10M/100M快速以太網(wǎng)(Fast Ethernet 10/100)或USB 2.0與計(jì)算機(jī)連接
(9)主控機(jī)箱前面板具有16×4液晶顯示屏,系統(tǒng)當(dāng)前狀態(tài)實(shí)時(shí)顯示
(10)具備實(shí)時(shí)在線三維圖像顯示功能,便于用戶在檢測(cè)過(guò)程中隨時(shí)直觀獲得樣品信息

 CSPM5500型原子力顯微鏡

主要特點(diǎn):

(1) 標(biāo)準(zhǔn)配置:
    原子力顯微鏡(AFM):包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式
    橫向力顯微鏡(LFM):具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力恒載荷曲線等摩擦學(xué)性能分析測(cè)量功能
    掃描隧道顯微鏡(STM):包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線、I-Z曲線等
    曲線測(cè)量分析功能:力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等

(2)選配功能:
    納米加工:包括圖形刻蝕模式、壓痕/機(jī)械刻畫(huà)、矢量掃描模式、DPN浸潤(rùn)筆模式等;
    磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡;
    環(huán)境控制掃描探針顯微鏡;
    液相掃描探針顯微鏡;
    導(dǎo)電原子力顯微鏡;
    掃描探針聲學(xué)顯微鏡;
    掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡;
    掃描電容顯微鏡;
    壓電力顯微鏡




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