DUO II 表面粗糙度測量儀

表面粗糙度測量儀

Surtronic Duo II 被廣泛用于生產現(xiàn)場、工業(yè)廠房和檢測室。

Surtronic Duo II 可用于評估地面的安全性，也可幫助地面材料制造商控制生產過程中的粗糙度。

它可靠、耐用、快速、易于使用，并且只需很少的培訓。

Surtronic Duo II 專門用于測量表面粗糙度，可與 HSE 滑倒評估軟件結合使用，以檢查地面的粗糙度。

Surtronic 的分辨率為 0.01 µm（0.4 µin），采用的粗糙度標準為 ISO 4287。

表面粗糙度測量儀

Surtronic Duo II ，只需按一鍵即可測量多個粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進行快速、輕松和精確的現(xiàn)場測量。

Surtronic Duo II 的特點:

• 測量 - 觸覺測量按鈕，適用難測到的位置

• 分體式 - 通過滑軌和鎖定裝置，分為顯示/控制裝置和驅動裝置兩部分

• 金剛石測針和壓電傳感器 - 帶金剛石的堅固耐磨的壓電傳感器測針，確保測量結果的可靠性。

• 藍牙技術 - 在驅動裝置和顯示/控制裝置之間進行快速可靠的通信

技術參數(shù)

量 程： 200um

行程：   5mm
取樣長度： 0.8mm+/-15%

參數(shù)：  Ra：0.1um-40um
精 度： Ra:0.1um Ra：0.1um-199um
Rz:0.1um 尺寸：125*80*38mm
檢測方式： 壓電式 重量：200g

關于泰勒-霍普森

泰勒-霍普森有限公司是美國阿美特克公司的一家子公司，阿美特克公司總部設在賓夕法尼亞州Berwyn市，擁有超過15,000名員工，年收入超過36億美元，公司事業(yè)蒸蒸日上。阿美特克公司為泰勒-霍普森創(chuàng)造了一個*而強大的現(xiàn)代環(huán)境，以確保泰勒-霍普森未來事業(yè)的連續(xù)成功。

我們持續(xù)不斷地開發(fā)我們的產品組合，以滿足行業(yè)今天所面臨的不斷發(fā)展變化的需求。泰勒-霍普森產品廣泛應用于下一代技術的開發(fā)和研究，其中，應用廣泛的領域包括半導體、硬盤、精密光學儀器和能源技術。