EDX4500 天瑞X射線熒光光譜儀

天瑞X射線熒光光譜儀EDX4500性能參數(shù)：

測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍：ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素

測(cè)量時(shí)間：60秒-200秒

探測(cè)器能量分辨率為：145±5eV

管壓：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體

輸入電壓：AC 110V/220V

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境濕度：35%-70%

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

樣品腔體積：Φ320mm×100mm

重量：65Kg

天瑞X射線熒光光譜儀EDX4500性能特點(diǎn)：

超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國際水平。

數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好。

SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。

低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好。

智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍。

自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性。

高信噪比的電子線路單元。

針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣。

解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度。

多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增大效應(yīng)得到明顯的抑制。

內(nèi)置高清晰攝像頭

液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然。

標(biāo)準(zhǔn)配置：

超薄窗X光管

SDD硅漂移探測(cè)器

數(shù)字多道技術(shù)

鋼鐵行業(yè)測(cè)試專用配件

光路增強(qiáng)系統(tǒng)

高信噪比電子線路單元

內(nèi)置高清晰攝像頭

自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片

自動(dòng)穩(wěn)譜裝置

三重安全保護(hù)模式

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回歸程序

整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證

90mm×70mm的液晶屏

真空泵

應(yīng)用領(lǐng)域：

鋼鐵檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素等）。