XTD鍍層測厚儀 上照式X射線熒光光譜膜厚儀

XTD系列測厚儀，專業(yè)表面處理檢測解決方案：

XTD系列測厚儀，專用于檢測各種異形件，特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。

儀器優(yōu)點：

1. 分析精度高

2. 分析范圍廣

3. 微區(qū)定位準

4. 操作簡單快捷

5. 結(jié)果可靠精準

6. 行業(yè)標準

XYZ高精密移動裝置：快速精準定位，手/自動（可選），自動版可實現(xiàn)編程定位多點自動測試。

軟、硬件雙向操作：人性化設(shè)計，實現(xiàn)軟件，硬件雙向快捷操作。

變焦+對焦：配備高敏感鏡頭，實現(xiàn)無感對焦，可測各種異形件、超大工件。

性能優(yōu)勢：

1.*的EFP算法：多層多元素、各種元素及有機物，甚至有同種元素在不同層也可精準測量。

2.上照式設(shè)計：實現(xiàn)可對超大工件進行快、準、穩(wěn)高效率測量。

3.自動對焦：高低大小樣品可快速清晰對焦。

4.變焦裝置算法：可對90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。

5.小面積測量：最小測量面積0.04mm2

6.大行程移動平臺：手動XY滑臺100*150mm，自動XY平臺200*200mm.

結(jié)構(gòu)設(shè)計：

測厚儀*的光路交換裝置，讓X射線和可見光攝像同一垂直線，達到視覺與測試定位一體，且X光擴散度??；與EFP軟件配合達到對焦、變焦雙焦功能，實現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試；高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍，可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差，同時特征X射線可以穿透測試更厚的表層。

核心EFP算法：

專業(yè)的研發(fā)團隊在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合*的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標樣來校正儀器因子，可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

儀器型號對比：