2600-PCT-xB Keithley 大功率半導(dǎo)體器件測(cè)試系統(tǒng)

Keithley 大功率半導(dǎo)體器件測(cè)試系統(tǒng)2600-PCT-xB大功率半導(dǎo)體器件測(cè)試系統(tǒng)可以提供高達(dá)10kV或100A的電流、電壓測(cè)試范圍，可匹配目前的大功率半導(dǎo)體器件測(cè)試對(duì)大電壓和大電流的要求，通過增加選件也可實(shí)現(xiàn)高壓交流信號(hào)測(cè)試，大電壓可達(dá)3kV。該系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，客戶可根據(jù)目前要求選擇性價(jià)比合適的測(cè)試模塊，同時(shí)支持后續(xù)擴(kuò)展升級(jí)。

• 廣泛的測(cè)試解決方案，包括測(cè)試源表、線纜、夾具、探針臺(tái)、軟件及應(yīng)用案例；
• 電壓測(cè)試范圍從uV至10kV，電流測(cè)試范圍從fA至100A，可根據(jù)測(cè)試要求進(jìn)行靈活選擇；
• 大功率交流信號(hào)測(cè)試模塊，可實(shí)現(xiàn)大電壓的C-V測(cè)試；
• 系統(tǒng)選用的波形記錄器及參數(shù)分析儀均沿襲了吉時(shí)利產(chǎn)品的高品質(zhì)特性，為用戶提供高精度的測(cè)試數(shù)據(jù)；
• 該系統(tǒng)可同時(shí)兼顧封裝組件和片上晶圓的測(cè)試，既節(jié)省了測(cè)試時(shí)間，又節(jié)約了設(shè)備成本。

　　吉時(shí)利向您推薦2600-PCT-xB系列測(cè)試系統(tǒng)，可提供高達(dá)10kV或100A的電壓、電流范圍，不僅可以進(jìn)行常規(guī)的IV測(cè)量，還可增加選件實(shí)現(xiàn)大功率的CV測(cè)量。該測(cè)試系統(tǒng)可以滿足各類大功率半導(dǎo)體器件的測(cè)試要求，而且該系統(tǒng)可以兼顧器件封裝后和片上測(cè)量，用一套系統(tǒng)就能實(shí)現(xiàn)器件不同階段的檢測(cè)，既簡(jiǎn)化了測(cè)試環(huán)節(jié)也節(jié)省了設(shè)備成本。

開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。 Keithley參數(shù)波形記錄儀（代替原晶體管圖示儀）支持所有的設(shè)備類型和測(cè)試參數(shù)。Keithley參數(shù)波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測(cè)試（IV曲線測(cè)試）、電容電壓曲線測(cè)試（CV曲線測(cè)試）和高功率脈沖IV曲線測(cè)量。

Keithley 大功率半導(dǎo)體器件測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)

• 完善的解決方案，價(jià)格實(shí)惠且性能優(yōu)異

• 可現(xiàn)場(chǎng)升級(jí)和重新配置，將 PCT 轉(zhuǎn)換成可靠性或晶片分類測(cè)試儀

• 可配置功率電平：

• 200V 至 3kV

• 1A 至 100A

• 寬動(dòng)態(tài)范圍：

• µV 至 3kV

• fA 至 100A

• 全量程容-電壓 (C-V) 能力：

• fF 至 µF

• 支持 2、3 和 4 端器件

• 高達(dá) 3kV DC 偏移

• 高性能測(cè)試夾具支持一系列軟件包類型

• 探頭測(cè)試臺(tái)接口支持最常見的探頭類型，包括 HV 同軸三線電纜、SHV 同軸電纜、標(biāo)準(zhǔn)同軸三線電纜等