輸入輸出阻抗測試設(shè)置

輸入輸出阻抗測試設(shè)置制阻抗圖

阻抗測試在繪制電抗圖是非常有效的，可以立刻觀察到測試的所有等效組件。

為了直接繪制電抗圖，數(shù)據(jù)必須首先標(biāo)準(zhǔn)化用來說明電壓變換器（使用電流采樣電阻的情況下）的電流。方法是去到繪制菜單Plotter Menu并選擇電抗圖Reactance Paper，

重新調(diào)整頁面角落以反映不同轉(zhuǎn)換電壓下的電流數(shù)值。

例如，如果電流采樣電阻是1歐，頁面的默認(rèn)設(shè)置是正確的并可以用公式Z = E / I來計(jì)算阻抗。如果電阻是100歐，公式變?yōu)?/span>Z = E / I * 100并得到100倍或者40 dB的數(shù)值。為了修正圖表數(shù)據(jù)我們簡單地改變相位頁面左下角和右上角的定義為40dB?，F(xiàn)在的數(shù)值直接以歐姆為單位來制圖。

圖2顯示了一個(gè)鋁電解電容的阻抗圖。電容容量為220uF，等效電阻為36毫歐，等效電感為0.6 uH，參數(shù)能直接從圖中讀出。

如果用Venable頻率響應(yīng)分析系統(tǒng)，只需輸入電阻數(shù)值頁腳定義將自動(dòng)改變。這可能不是一個(gè)實(shí)際電阻，而是電阻的等效值，將產(chǎn)生同樣的電流電壓轉(zhuǎn)換為電流探針被使用。這將在第三章解釋:使用電流探針。這將自動(dòng)改變左下角和右上角為適當(dāng)?shù)闹怠?/span>

輸入輸出阻抗測試設(shè)置使用電流探針

阻抗測試中您可以使用一個(gè)電流探針代替電阻測量電流。如果你使用一個(gè)電流探針，你需要小心計(jì)算標(biāo)記引用的比例因子R在Venable System軟件描述的電流探針阻抗。這個(gè)比例因子將改變電流探針的類型或設(shè)置電流探針放大或終止。顯示或繪制阻抗大小是乘以比例因子。

如果您在有源終端條件下使用電流探針，一個(gè)簡單的方法是將中斷放大器盒設(shè)置為相同的值，因?yàn)樗砻髟O(shè)置范圍。這時(shí)電流探頭將控制示波器，當(dāng)應(yīng)該設(shè)置50mV/div時(shí)設(shè)置為50 mA / div,那些應(yīng)該設(shè)置10mV/div示波器上設(shè)置為10mV/div。如果你使用這些設(shè)置，驗(yàn)證比例因子(稱為參考R)設(shè)置Venable系統(tǒng)默認(rèn)值1。當(dāng)你使用電流探針測試到50歐姆負(fù)載，一定要設(shè)置50歐姆的測試儀輸入電阻。

計(jì)算比例因子的例子：

4 輸入輸出阻抗測試

您可以使用Venable頻率響應(yīng)分析系統(tǒng)(型號(hào)4300、6300、350c,350,3100和3200)和IOZ設(shè)備來測量電路的輸入、輸出阻抗或整個(gè)系統(tǒng)。圖3顯示了輸入阻抗測試設(shè)置。需要外部功率放大器提高交流信號(hào)，因?yàn)轭l率響應(yīng)分析儀信號(hào)發(fā)生器輸出阻抗太高(50歐姆)，導(dǎo)致電源輸出擾動(dòng)。這組輸入/輸出測量頻率響應(yīng)分析系統(tǒng)由一個(gè)功率放大器和注入變壓器能夠承受50或100安培的直流電流不飽和。

Figure 3. Input Impedance Setup

圖3 輸入阻抗設(shè)置

圖4顯示了用于測試電源輸出阻抗的設(shè)置。注入變壓器現(xiàn)在放在被測單元的輸出端和輸出終端的電壓測量。您可以將電容和負(fù)載并聯(lián)(沒有顯示在圖中)幫助得到較好的數(shù)據(jù)。電容器降低單元測試下交流負(fù)載阻抗的電流。這增加獲得較好數(shù)據(jù)的能力和消除噪聲。

Figure 4. Output Impedance Setup

圖4 輸出阻抗設(shè)置

圖4的另一個(gè)變化是將電壓感應(yīng)通向的負(fù)載。這產(chǎn)生負(fù)載阻抗特征，通常是重要的信息如虛擬負(fù)載可以設(shè)置代表的實(shí)際負(fù)載單元測試將推動(dòng)。電源的阻抗負(fù)載，尤其是遙感，應(yīng)該考慮循環(huán)時(shí)關(guān)閉。如果負(fù)載特點(diǎn)用來改良相應(yīng)的L,C,和R的初始測試電源將反映出操作的數(shù)值。

如果有Venable頻率響應(yīng)分析系統(tǒng)，您可以測量的輸出阻抗源和負(fù)載的輸入阻抗或者單相掃描。這是有用的，如果你進(jìn)行比較阻抗的阻抗匹配測試。設(shè)置測試如圖4所示，但連接CH3電壓使電流探針和負(fù)載之間的感應(yīng)接近電流探針。這將包括電纜連接源和負(fù)載的阻抗負(fù)載的一部分給準(zhǔn)確的阻抗匹配數(shù)據(jù)。你連接變壓器和電纜電流探針只要你保持緊密和直接測量電壓的變壓器/電流探針。

5 磁化系數(shù)測試

可由Venable頻率響應(yīng)分析系統(tǒng)和阻抗測量的選擇進(jìn)行磁化率測量。圖5顯示了一種磁化系數(shù)測試可能的設(shè)置。功率放大器和隔離變壓器串聯(lián)連接的輸入單元測試下。系統(tǒng)的磁化率的比值用輸出和輸入電壓比值衡量。

Figure 5. Conducted Audio Susceptibility Setup

圖5導(dǎo)致音頻磁化的設(shè)置

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通常情況下，磁化率變化作為輸入激勵(lì)電平的函數(shù)，所以輸入驅(qū)動(dòng)必須被控制。這樣做很容易與Venable頻率響應(yīng)分析系統(tǒng)使用伺服特性分析儀控制菜單。簡單的選擇是保持不變的通道和電壓所需的輸出功率，該系統(tǒng)將改變振蕩器的輸出的交流電壓測量輸入電壓不變。對于阻抗測試，我們建議伺服在當(dāng)前頻道，因?yàn)榉糯笃骶拖褚粋€(gè)電流源。

6 修正粗大誤差

如果被測量的阻抗很高，分析器的輸入阻抗和測試引線可以在測量中引入的誤差。如果數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到一個(gè)文件中糾正誤差可以通過測量設(shè)置開路(也保存為一個(gè)文件)，并使用文件數(shù)學(xué)File Math糾正未知的測量。與模型修正過程開始的測試設(shè)置如圖6所示。

Figure 6. Analyzer Input Showing Parasitic Errors

圖6 分析儀輸入顯示粗大誤差

所有說明了測量阻抗的設(shè)置可以修正誤差，得到未知量修正減去開放輸入的未知導(dǎo)納。這可以通過費(fèi)勁的詳細(xì)過程A步驟1到步驟3或者速記B過程如下。請閱讀兩部分流程以便全面了解。

A 1. 把這兩個(gè)來自阻抗數(shù)據(jù)的文件導(dǎo)入。這是從數(shù)學(xué)文件菜單File Math Menu來完成的。簡單地設(shè)置向量量級(jí)為1和相位0，并選擇向量/電源的操作。這個(gè)計(jì)算1 /電阻。選擇源和結(jié)果文件的名稱(千萬不要保存為RESULT.FIL)，并計(jì)算結(jié)果。

2. 減去的開路輸入導(dǎo)納的未知量。這是數(shù)學(xué)從文件菜單 File Math Menu來完成的。選擇文件1 - 文件2作為操作，輸入文件的名稱和計(jì)算結(jié)果。

3. 轉(zhuǎn)換生成的導(dǎo)納阻抗入A步驟。現(xiàn)在的結(jié)果是未知的阻抗，有阻抗分析儀修正。

B. 阻抗可能轉(zhuǎn)化為導(dǎo)納與更少的操作通過改變的定義輸入和輸出節(jié)點(diǎn)，如果輸入的數(shù)據(jù)都記錄聲明為節(jié)點(diǎn)1和輸出節(jié)點(diǎn)2，去文件數(shù)學(xué)菜單File Math Menu，并選擇文件1 - 文件2。下一個(gè)改變節(jié)點(diǎn)定義默認(rèn)值的所有三個(gè)文件：

、輸入節(jié)點(diǎn)：2

輸出節(jié)點(diǎn)：1

、現(xiàn)在計(jì)算結(jié)果和完成的工作。結(jié)果文件阻抗相同的方式定義為原始文件。

章節(jié)2: 測試設(shè)置

頻率響應(yīng)分析器輸出連接到后方BNC輸入Venable型號(hào)為VLA 1500放大器帶BNC-BNC電纜。

連接VLA 1500放大器后和輸出終端注入變壓器模型為50安培(100安培)，主要終端(以任意順序)為# 10環(huán)形接線片到香蕉插頭電纜(已提供)。

注入變壓器50A或100A二次終端連接電路在測試前測試設(shè)置示意圖所示使用?-20環(huán)形接線片(不提供)。