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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>X射線熒光測厚儀> XTU-50B X射線熒光譜儀鍍層厚度測試儀

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XTU-50B X射線熒光譜儀鍍層厚度測試儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 深圳喬邦儀器有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時間 2024/4/28 17:08:06
  • 訪問次數(shù) 1289

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深圳喬邦儀器有限公司是一家集光譜,色譜,質(zhì)譜,電化學儀器銷售維修、鹵素升級、二手光譜儀買賣租賃及儀器數(shù)據(jù)校正為一體的綜合服務(wù)企業(yè)。公司本著“專業(yè)的人做專業(yè)的事,選擇專業(yè) 更顯價值”的經(jīng)營合作理念,為您提供快速優(yōu)質(zhì)的技術(shù)服務(wù)。公司相比原廠同類配件維修價格有優(yōu)勢,有效的幫助客戶降低光譜儀的綜合使用成本。我們不懈追求只為得到您的滿意 !

 

快速熱裂解ROHS儀,RoHS2.0檢測儀,波長色散光譜儀,能量色散光譜儀,膜厚儀,液相色譜,ICP,

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 10萬-20萬
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝

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XTU-50B X射線熒光譜儀鍍層厚度測試儀是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度*的鍍層測厚儀,采用了下照式C型腔體設(shè)計,不但可以測量各種微小樣品,即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量,是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型。



應(yīng)用領(lǐng)域

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業(yè)

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測

衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

電鍍液的金屬陽離子檢測


XTU-50B X射線熒光譜儀鍍層厚度測試儀性能優(yōu)勢:

下照式設(shè)計:可以快速方便地定位對焦樣品。

無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm.

微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。

高效率的接收器:即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。

精密微型滑軌:快速定位樣品。

EFP*算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。


項       目 參        數(shù)
測量元素范圍 Cl(17)-U(92)
涂鍍層分析范圍 各種元素及有機物
分析軟件 EFP,可同時分析23層鍍層,24種元素,不同層有相同元素也可分析
軟件操作 人性化封閉軟件,自動提示校正和步驟,避免操作錯誤
X射線裝置 W靶微聚焦加強型射線管
準直器 ? 0.05 mm  ;? 0.1 mm;? 0.2 mm;? 0.5 mm;準直器任意選擇一種
近測距光斑擴散度 10%
測量距離 具有距離補償功能,可改變測量距離,能測量凹凸異型樣品,變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察 1/2.5彩色CCD,變焦功能
對焦方式 高敏感鏡頭,手動對焦
放大倍數(shù) 光學38-46X,數(shù)字放大40-200倍
樣品臺尺寸 500mm*360mm
移動方式 高精密XY手動滑軌
可移動范圍 50mm*50mm
隨機標準片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件 聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機、附件箱

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項       目參        數(shù)
測量元素范圍Cl(17)-U(92)
涂鍍層分析范圍各種元素及有機物
分析軟件EFP,可同時分析23層鍍層,24種元素,不同層有相同元素也可分析
軟件操作人性化封閉軟件,自動提示校正和步驟,避免操作錯誤
X射線裝置W靶微聚焦加強型射線管
準直器? 0.05 mm  ;? 0.1 mm;? 0.2 mm;? 0.5 mm;準直器任意選擇一種
近測距光斑擴散度10%
測量距離具有距離補償功能,可改變測量距離,能測量凹凸異型樣品,變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察1/2.5彩色CCD,變焦功能
對焦方式高敏感鏡頭,手動對焦
放大倍數(shù)光學38-46X,數(shù)字放大40-200倍
樣品臺尺寸500mm*360mm
移動方式高精密XY手動滑軌
可移動范圍50mm*50mm
隨機標準片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機、附件箱



XTU-50B X射線熒光譜儀鍍層厚度測試儀性能特點:

1、上照式
2、測試組件可升降
3、高精度移動平臺
4、小準直器
5、高分辨率探頭
6、可視化操作
7、自動定位高度
8、自動尋找光斑
9、鼠標定位測試點
10、良好的射線屏蔽
11、超大樣品腔設(shè)計
12、測試口安全防護


技術(shù)指標:

元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)。
一次可同時分析zui多24個元素。
分析檢出限可達1ppm。
分析含量一般為1ppm到99.9%。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。
多次測量重復(fù)性可達0.1%。
長期工作穩(wěn)定性為0.1%。
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。


應(yīng)用領(lǐng)域:

黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構(gòu);電鍍行業(yè)




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