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華測(cè)測(cè)試儀器 HCMP手動(dòng)探針臺(tái)

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  北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司( 簡(jiǎn)稱: 華測(cè)儀器) 為高新技術(shù)企業(yè),專注于絕緣材料與功能新材料電性能檢測(cè)以及材料電學(xué)測(cè)控設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù),目前公司產(chǎn)品已應(yīng)用于全國(guó)二十多個(gè)省、市、自治區(qū)。
  公司有功能材料、電氣絕緣材料兩個(gè)電學(xué)試驗(yàn)室;涉及材料測(cè)試儀器、器件的放大、調(diào)理、采集、控制;傳感器性能綜合評(píng)價(jià)等相關(guān)儀器。

  產(chǎn)品系列:功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。




功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。


 HCMP 手動(dòng)探針臺(tái)


微型真空探針臺(tái)是一款專門用于材料電學(xué)表征和測(cè)量的微型桌面型電學(xué)測(cè)量臺(tái),主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)表征和測(cè)量,還可以在真空、氣氛環(huán)境下對(duì)材料進(jìn)行電學(xué)測(cè)量評(píng)估,是實(shí)驗(yàn)室測(cè)量薄膜材料電學(xué)材料常用工具,廣泛用于高校、科研、航天航空、軍工院所等領(lǐng)域。

功能特點(diǎn)

1、無人機(jī)外觀設(shè)計(jì)開發(fā),讓低溫探針臺(tái)小巧精密;

2、XYZ三維移動(dòng)平臺(tái)的開發(fā),位移分辨率10um以下;

3、電聲制冷機(jī)制冷加熱一體化平臺(tái)應(yīng)用開發(fā);

4、液氮制冷加熱一體化平臺(tái)應(yīng)用開發(fā);

5、利用機(jī)械彈性設(shè)計(jì),低溫環(huán)境下也有彈性,避免在探針壓薄膜樣品是損壞薄膜;

6、實(shí)現(xiàn)-160℃~450℃的制冷和加熱測(cè)量環(huán)境,控溫精度達(dá)到±0.5℃;

7、采用1000X放大鏡顯微鏡設(shè)計(jì),有利于實(shí)時(shí)觀察樣品的測(cè)量狀態(tài);

8、廣泛用于復(fù)雜、高速器件的精密電器測(cè)量,可靠性高;

9、高低溫平臺(tái)、測(cè)量夾具、測(cè)量軟件等集成于一體,讓操作變得簡(jiǎn)單;

10、可以通過USB傳輸數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)格式為Excel格式。


應(yīng)用場(chǎng)景:晶圓芯片高低溫測(cè)試

測(cè)試類型:IV/CV/RF

樣品臺(tái):4英寸

溫度范圍:77K-673K

真空度:10E-4Pa

顯微鏡類型:?jiǎn)瓮?、體視、金相顯微鏡

探針臂數(shù)量:2-6個(gè)

探針臂移動(dòng):50mm*50mm*50mm

測(cè)試接口:BNC三同軸

測(cè)試精度:100fA

可搭配儀器:源表、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、示波器等

華測(cè)測(cè)試儀器  HCMP手動(dòng)探針臺(tái)


華測(cè)測(cè)試儀器  HCMP手動(dòng)探針臺(tái)

華測(cè)測(cè)試儀器  HCMP手動(dòng)探針臺(tái)


華測(cè)測(cè)試儀器  HCMP手動(dòng)探針臺(tái)

華測(cè)測(cè)試儀器  HCMP手動(dòng)探針臺(tái)
























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