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掃描探針顯微系統(tǒng)Dimension Icon

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 冠乾科技(上海)有限公司
  • 品牌 Bruker/布魯克
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地 美國(guó)
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間 2023/8/18 11:40:36
  • 訪問(wèn)次數(shù) 757

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冠乾科技Grant Technology 有限公司創(chuàng)立于中國(guó)上海。 公司為用戶提供先進(jìn)可靠的設(shè)備及、

儀器技術(shù),為客戶把握工藝過(guò)程,得到優(yōu)質(zhì)的結(jié)果而服務(wù)。
Grant是“授予”的意思,希望公司能夠成為一個(gè)平臺(tái),以用戶能夠得到上更新更快的技術(shù)資訊,技術(shù)方案為企業(yè)目標(biāo)。

冠乾科技追求品質(zhì)產(chǎn)品、專業(yè)的應(yīng)用和完善的售后服務(wù),我們是您可以信賴的合作伙伴。

工藝設(shè)備:真空鍍膜機(jī);離子束刻蝕機(jī),ICP刻蝕機(jī),等

產(chǎn)品線豐富,元素分析:原子吸收,氣相色譜,液相色譜,氣質(zhì)聯(lián)用,紫外分光光度計(jì)等; 熱分析:材料表面分析:原子力顯微鏡,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損等;  通用分析:掃描電鏡,

實(shí)驗(yàn)室儀器
原子吸收光譜儀
近紅外光譜儀
紫外分光光度計(jì)
電化學(xué)工作站
紅外光譜儀
鍍層測(cè)厚儀
數(shù)字顯微鏡
影像測(cè)量?jī)x
Wafer 粗糙度檢測(cè)
3D 輪廓儀
超景深顯微鏡
TTV 測(cè)試
掃描探針顯微鏡
臺(tái)式掃描電鏡

其他儀器:
四探針測(cè)試
離子減薄機(jī)

 

原子力顯微鏡,摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),超景深顯微鏡,鍍膜機(jī)

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
儀器種類 原子力顯微鏡 應(yīng)用領(lǐng)域 電子,航天,電氣

儀器簡(jiǎn)介:

掃描探針顯微系統(tǒng)Dimension Icon的性能、功能及附件等方面具有全新表現(xiàn),在聚合物、半導(dǎo)體、能源、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及材料領(lǐng)域的納米研究中將會(huì)得到廣泛應(yīng)用。Dimension Icon是Dimension系列產(chǎn)品中的最新款設(shè)備,它基于世界上應(yīng)用廣泛的AFM平臺(tái),集合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新、行業(yè)內(nèi)的應(yīng)用定制及客戶反饋等于一身。這個(gè)系統(tǒng)經(jīng)過(guò)從上到下的設(shè)計(jì),在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現(xiàn)。


技術(shù)參數(shù):

X-Y方向掃描范圍:90um *90um典型值,最小85um
Z方向掃描范圍:10um典型值,在成像及力曲線模式下;最小9.5um
垂直方向噪音基底:<30pmRMS, 在合適的環(huán)境及典型的成像帶寬(達(dá)到625Hz)
X-Y定位噪音(閉環(huán)):<0.15nm RMS,典型成像帶寬(達(dá)到625Hz)
X-Y定位噪音(閉環(huán)):<0.10nm RMS,典型成像帶寬(達(dá)到625Hz)
Z傳感器噪音水平(閉環(huán)):<35pm RMS, 典型成像帶寬(達(dá)到625Hz)
整體線性誤差(X-Y-Z):0.5% 典型值


樣品尺寸/夾具:210mm真空吸盤樣品臺(tái),直徑210mm, 厚度15mm
電動(dòng)定位樣品臺(tái)(X-Y軸):180mm*180mm可視區(qū)域;單向2um重復(fù)性;雙向3um重復(fù)性。
顯微鏡光學(xué)系統(tǒng):五百萬(wàn)像素?cái)?shù)字照相機(jī)
                         180um至1465um可視范圍
                          數(shù)字縮放及自動(dòng)對(duì)焦功能

控制器:NanoScope V型控制器
工作臺(tái):整合所有控制器、結(jié)合人體工學(xué)設(shè)計(jì),提供直接的物理或可視借口
震動(dòng)隔絕:整體式氣動(dòng)減震臺(tái)
聲音隔絕:可隔絕環(huán)境中85 dBC的持續(xù)噪音


主要特點(diǎn):

掃描探針顯微系統(tǒng)Dimension Icon結(jié)合Veeco最新的針尖-掃描AFM技術(shù),Icon的溫度補(bǔ)償定位傳感器使Z軸的的噪音水平達(dá)到亞-埃米級(jí),X-Y方向達(dá)埃米級(jí)。在大樣品臺(tái)、90微米掃描范圍系統(tǒng)的儀器當(dāng)中,這種表現(xiàn)是非常突出的,優(yōu)于絕大部分的開環(huán)、高分辨率AFM系統(tǒng)的噪音水平。

Icon不僅具有非常好的分辨率,它還具備許多新的特性,以增加新老AFM用戶操作儀器的便捷性及出圖像速率:
• 設(shè)計(jì)的掃描管,實(shí)現(xiàn)閉環(huán)掃描功能同時(shí),具有開環(huán)掃描管的噪音水平,在大樣品AFM系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)的分辨率;
• 全新設(shè)計(jì)的XYZ閉環(huán)掃描管,在不影響圖像質(zhì)量下具有非常高的掃描速度,具有非??斓臄?shù)據(jù)采集能力;
• 最新的NanoScope軟件版本,提供直觀的操作流程及默認(rèn)實(shí)驗(yàn)?zāi)K,將復(fù)雜的AFM操作流程轉(zhuǎn)化為預(yù)先設(shè)置;
• 高分辨率的照相機(jī)及X-Y定位,實(shí)現(xiàn)更迅速、更有效的樣品定位;
• 開放的針尖及樣品環(huán)境,適用于絕大部分的標(biāo)準(zhǔn)或定制實(shí)驗(yàn);
• 硬件及軟件設(shè)置適用Veeco現(xiàn)有的及即將推出的所有模式及技術(shù),包括現(xiàn)有的*進(jìn)的HarmoniX納米材料性能成像模式。



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