EDX8000B PLUS RoHS2.0熒光光譜檢測儀

為了滿足客戶日益更為嚴苛的測試需求，特別是對微量痕量元素測試靈敏度和穩(wěn)定性的更高標準，英飛思ESI全新開發(fā)了升級版EDX8000B---RoHS符合性XRF檢測光譜儀。相較于基礎(chǔ)版本的Si-pin硅針檢測器，EDX8000B裝備了SDD硅漂移檢測器。更高的樣品X光能量數(shù)據(jù)通量，更好的光譜分辨率，使得檢測性能提高了2-3倍。

EDX8000B的優(yōu)勢：

•更快---由于單位時間內(nèi)可以獲得更高樣品信號通量，使得測量時間大幅減少。100秒即可達到普通版本儀器200秒的測量效果

•更準---多道分析器DPP可實現(xiàn)超過100,000 cps的線性計數(shù)速率而同時保證光譜分辨率，通常優(yōu)于130 eV（普通Si-pin探測器為160eV），以更好地分離不同元素的光譜。同時，強大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體元素間吸收增強效應(yīng)，并同時考慮到不同基體對光譜強度變化的干擾，把測試準確度提高到了新的水平

•更穩(wěn)---使用超大面積25 mm2鈹窗SDD檢測器(普通Si-pin檢測器6mm²),該款檢測器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得2-3倍于普通檢測器的光譜強度（計數(shù)率CPS），從而得到更好的測試穩(wěn)定性和長期重復(fù)性。與傳統(tǒng)的Sipin版本臺式儀器相比，EDX8000B光譜儀可以全功率運行，因此實現(xiàn)了更為穩(wěn)定和可靠的測試表現(xiàn)

>>圖2-1，2-2可以清晰的看到，同樣測試條件下，8000B獲得了更好的Cl氯測試光譜（圖中紫色部分為Cl元素光譜線，右圖Cl峰形更高，信噪比更好，分辨率更優(yōu)，最終表現(xiàn)為更優(yōu)異的測試結(jié)果）

如何選擇（EDX8000或者EDX8000B）

如果您對測試速度有更高的要求，

如果您對微量元素（小于100ppm）的測試靈敏度和穩(wěn)定性有更高要求，

EDX8000B無疑都是好的選擇。

如果您主要關(guān)注性價比，EDX8000仍然是非常正確的選擇。

及時而專業(yè)的售后服務(wù)  

>對客戶方操作人員進行技術(shù)培訓

>現(xiàn)場安裝、調(diào)試、驗收服務(wù)

>產(chǎn)品終身維修

>免費提供軟件升級

>提供高效的技術(shù)服務(wù)，在接到用戶故障信息后，8小時內(nèi)響應(yīng)，如有需要，48小時內(nèi)工程師上門維修和排除故障