TSD-100F-2P 高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱半導(dǎo)體芯片封裝
參考價(jià) | ¥ 58200 |
訂貨量 | ≥1臺(tái) |
- 公司名稱 東莞市皓天試驗(yàn)設(shè)備有限公司
- 品牌 HT/皓天
- 型號(hào) TSD-100F-2P
- 產(chǎn)地 東莞市常平鎮(zhèn)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/1/14 13:01:31
- 訪問次數(shù) 1643
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可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱,高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱,冷熱沖擊試驗(yàn)箱,紫外線耐氣候老化試驗(yàn)箱,步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室,高溫老化房,氙燈老化試驗(yàn)箱,
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,制藥,汽車,電氣 |
高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱半導(dǎo)體芯片封裝
高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室,蓄熱室和試驗(yàn)室,產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)是放置在試驗(yàn)室。兩箱式分為高溫室和低溫室,是通過電機(jī)帶動(dòng)提籃運(yùn)動(dòng)來實(shí)現(xiàn)高低溫的切換,產(chǎn)品放在提籃里,是隨提籃一起移動(dòng)的。
高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱半導(dǎo)體芯片封裝
高低溫沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn):
1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;
2、GB/T2423.2-2001;
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N;
4. 軍標(biāo)GJB150.3-86;
5. 軍標(biāo)GJB150.4-86;
6. 軍標(biāo)GJB150.5-86;
7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);
8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);
9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn);
10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱--一箱式;
11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱--二箱式;
12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;
10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化;
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則;
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估。
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