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FPGEN-AutoSIR2 表面絕緣電阻測(cè)試儀,絕緣dian阻變化
- 公司名稱(chēng) 孚光精儀(中國(guó))有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) FPGEN-AutoSIR2
- 產(chǎn)地 www.f-lab.cn/pcbceshi.html
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2022/10/5 14:53:32
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 402
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,電氣,綜合 |
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表面絕緣電阻測(cè)試儀SIR是下一代PCB測(cè)量表面絕緣電阻變化的儀器。新的表面絕緣電阻測(cè)試儀AutoSIR2比現(xiàn)有的SIR測(cè)試替代方案有了顯著的改進(jìn),其屏蔽精密電子設(shè)備允許先進(jìn)的精度電阻測(cè)量值達(dá)到1014Ω。
表面絕緣電阻測(cè)試儀AutoSIR2+機(jī)箱可以容納1到16個(gè)測(cè)量卡,并可以在幾分鐘到幾天的可選間隔內(nèi)監(jiān)控多達(dá)256 x 2點(diǎn)測(cè)試模式或78 x 5點(diǎn)測(cè)試模式,或32 x 9點(diǎn)測(cè)試模式。每個(gè)通道都有電流限制(1MΩ),這會(huì)促進(jìn)枝晶的生長(zhǎng),以便進(jìn)行故障分析。頻繁監(jiān)測(cè)功能提供了電路組件上發(fā)生的電化學(xué)反應(yīng)的全貌,并提供了早期趨勢(shì)分析,使測(cè)試得以縮減,從而節(jié)省了大量測(cè)試時(shí)間和資金。
表面絕緣電阻測(cè)試儀特點(diǎn)
所有256個(gè)通道的測(cè)量可在30秒內(nèi)完成
施加電壓:+1V至100V
測(cè)量范圍:106Ω至1014Ω
測(cè)量方法:在所有選定通道上連續(xù)測(cè)量
測(cè)量測(cè)試間隔:至少1分鐘*可選
能夠按照所有現(xiàn)有測(cè)試規(guī)范(IPC–IEC–JNC)和其他用戶(hù)規(guī)范進(jìn)行測(cè)試
經(jīng)得起未來(lái)考驗(yàn)的設(shè)計(jì)
AutoSIR2+提供64、128或256通道配置
在連接時(shí),系統(tǒng)運(yùn)行自檢
適用于Windows 7、8和10的適應(yīng)性強(qiáng)且靈活的軟件
表面絕緣電阻測(cè)試儀規(guī)格參數(shù)
通道數(shù) | 64 or 128 or 256 |
絕緣電阻測(cè)量范圍 | 106 to 1014 Ω |
內(nèi)部偏置電壓 | 0V; 3.3V; 5V; 10V; 12.5V; 15V; ±50V, ±100V |
外部偏置電壓 | 1V to 100V free selection external 1V to 1250V |
測(cè)量方法 | Continuous on all selected channels |
測(cè)量間隔 | Fully selectable from minimum of 1 minute |
測(cè)量速度 | Optimised at<100ms per channel for data management |
最大測(cè)量時(shí)間 | Unlimited |
電流測(cè)試 | Fully shielded |
警報(bào) | Low resistance |
數(shù)據(jù)采集 | Sampling Time, Elapsed Time, Resistance, Current, Applied Voltage, Temperature, Humidity |
適合操作系統(tǒng) | Windows® 7 onwards |
供電要求 | 110V/230V Switchable mains single phase |
尺寸重量 | 17 kgs (37.5 Ibs), 52 x 34 x 17cm |
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