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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學儀器及設備>光學實驗設備>光學儀器組件> Duma 光束質(zhì)量分析儀

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Duma 光束質(zhì)量分析儀

參考價10000-30000/件
具體成交價以合同協(xié)議為準

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上海屹持光電技術有限公司致力于光電事業(yè)的發(fā)展,專業(yè)從事光學實驗室設備研究、開發(fā)、制造及銷售,憑借公司強大的技術力量和經(jīng)濟實力,不斷開發(fā)出具有優(yōu)良技術水平的新產(chǎn)品。

  公司本著技術優(yōu)良、質(zhì)量*、客戶*的原則為廣大用戶提供滿意的服務。






太赫茲,超快,激光器及調(diào)制測量設備

價格區(qū)間 面議 應用領域 電子
組件類別 其他

DumaDuma Optronics  公司于1989年成立于以色列,是一家專業(yè)從事激光光束自動化測量系統(tǒng)研發(fā)和生產(chǎn)的公司。其生產(chǎn)的光束質(zhì)量分析儀產(chǎn)品類型豐富,功能全面。Duma 光束質(zhì)量分析儀提供了兩種技術的光束質(zhì)量分析儀:CCD式(BeamOn系列)和刀口式(Beam  Analyzer系列)。

 

Duma 光束質(zhì)量分析儀詳細說明  

高分辨率:

高分辨率激光光束質(zhì)量分析儀(1.4M像素)帶有電動光學濾波輪組(軟件或者ActiveX控制)。具有12位的動態(tài)范圍,能對連續(xù)光和脈沖光的形狀,位置,功率等光束特性進行方位測量。USB2.0接口,Duma可提供一系列的測量配件,集成的電動濾波輪和三片衰減片,通過濾波輪軟件自動調(diào)節(jié),可測量從nW到1W不同強度的激光。

技術:

Duma的CCD光束質(zhì)量分析儀是一種既可以測量連續(xù)光也可以測量脈沖光的光束質(zhì)量診斷設備。具備光束寬度,光束形狀,位置,功率,強度分布等多種參數(shù)測試能力。使用USB2.0數(shù)據(jù)且可以用軟件控制。通多控制衰減片的倍數(shù)多次測量,可以突破動態(tài)范圍的限制來精確測量大的動態(tài)范圍的激光束。這種技術可以測量相對于強點1%的功率動態(tài)范圍分布,這種技術可測量功率密度強點到弱點。

亞微米:

亞微米級別光束質(zhì)量分析儀為亞微米級別光斑提供了光束分析和圖形處理功能。主要應用于CD唱頭,激光二極管,唱頭透鏡和光學元件調(diào)整,小直徑光束,以及任何需要光束測量的系統(tǒng)。

刀口式光束質(zhì)量分析儀

技術在不同的交叉角和不同的交叉面對光束空間強度進行斷層重建從而測量光束質(zhì)量。提供了高分辨率光束直徑和剖面測量,并能夠顯示光束功率分布的二維和三維視圖。

優(yōu)點:

高動態(tài)范圍,高分辨率

實時測量能有效控制光束質(zhì)量

紫外,可見,近紅外寬光譜測量

功能

無像差掃描式光學衰減器可測量高功率大動態(tài)范圍光束

工業(yè)解決方案—尺寸小

12位A/D轉(zhuǎn)換器,可實現(xiàn)高分辨率采樣

數(shù)據(jù)通過RS232或者TCP/IP與轉(zhuǎn)換器連接。

 

產(chǎn)品系列包含:

光斑分析儀,光束質(zhì)量分析儀型號:

BeamOn WSR UV-NIR (190-1600nm)

BeamOn WSR

BeamOn HR

BeamOn

BeamOn U3

BeamOn 2/3

BeamOn LA

BeamOn Longbow

Beam Analyzer

Beam Analyzer Touch

M2 Beam

uBeam

 

高功率光斑分析系統(tǒng)型號:

M2 HP - 4 kW

uBeam HP

Beam Analyzer HP

BeamOn HP

 

位敏探測系統(tǒng)型號:

SpotOn USB 2.0

SpotOn Analog USB

SpotOn Analog

SpotOn LA

SpotOn

SpotOn Compact

SpotOn CCD

LaserOn

 

激光準直儀型號:

AlignMeter USB

Electronic Autocollimator

Electronic Autocollimator HR

Laser Analyzing Autocollimator

Laser Analyzing Telescope

AngleMeter LA

AlignMeter LA



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