DAD-4型交流法導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀

DAD-4型交流法導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀

關(guān)鍵詞：電解質(zhì)溶液、導(dǎo)電凝膠、碳粉、石墨烯粉體漿料

DAD-4型交流法導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀是一種區(qū)別于直流法測(cè)試材料電阻率的新的測(cè)試方法，主要是針對(duì)于離子導(dǎo)電物質(zhì)（如電解質(zhì)溶液、導(dǎo)電凝膠）和導(dǎo)電粉體懸濁液（如碳粉、石墨烯粉體漿料）設(shè)計(jì)的電阻率測(cè)試儀器。適用范圍：廣泛應(yīng)用于科研單位、高等院校對(duì)凝膠、溶液、離子導(dǎo)電材料以及不適用于直流測(cè)試樣品的導(dǎo)電性能測(cè)試。

一、主要功能材料測(cè)試項(xiàng)目：

1、離子導(dǎo)電物質(zhì)（如電解質(zhì)溶液、導(dǎo)電凝膠）電阻率，電導(dǎo)率測(cè)試

2、導(dǎo)電粉體懸濁液（如碳粉、石墨烯粉體漿料）電阻率，電導(dǎo)率測(cè)試

3、可測(cè)金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜，也可測(cè)陶瓷、玻璃或 PE 膜等基底薄膜涂層電阻率/方阻

二、符合：

符合：符合 GB/T 1551-2009《硅單晶電阻率測(cè)定方法》

GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?/span>

GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā返葒?guó)標(biāo)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

三、 優(yōu)勢(shì)特征：

1、本測(cè)試儀特增設(shè)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)分類功能。

2、可定制 USB 通訊接口，便于其拓展為集成化測(cè)試系統(tǒng)中的測(cè)試模塊。

3、8 檔位超寬量程，行業(yè)。 同行一般為五到六檔位。

4、儀器小型化、手動(dòng)/自動(dòng)一體化。

5、儀器操作簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定，所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入，簡(jiǎn)便而且免除模擬定位器的不穩(wěn)定。

6、 探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。

四、基本技術(shù)參數(shù)

3.1 測(cè)量范圍

1、電阻率：2πS*（0.10Ωm～100kΩm），（ S 針距，單位 m）

2、電阻：0.10Ω～100.0kΩ

3、 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定)

4、直 徑：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 180mm×180mm

5、手持方式不限. 長(zhǎng)(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,

6、測(cè)量方位: 軸向、徑向均可

7、碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距 1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)

(薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距 2.0mm，探針壓力: 0～

0.6kg 可調(diào)

8、電源：22V，DC 8.4V (充電鋰電池，大容量電池為廠家定制)

9、.外形尺寸、重量：

10、主 機(jī)： 240mm（長(zhǎng)）×130 mm（寬）×50mm（高）， 凈 重：≤2.5kg

11、帶電腦軟件，可以保存、查詢、統(tǒng)計(jì)分析數(shù)據(jù)和打印報(bào)告。

12、USB 通訊接口，通用性好、方便快捷。

13、可以配置ZJ-3型壓電測(cè)試儀進(jìn)行D33系數(shù)測(cè)試