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SuperViewW1 三維白光干涉儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 深圳市中圖儀器股份有限公司
  • 品牌 CHOTEST/中圖儀器
  • 型號 SuperViewW1
  • 產地 學院大道1001號
  • 廠商性質 生產廠家
  • 更新時間 2024/5/12 16:00:29
  • 訪問次數(shù) 1343

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深圳市中圖儀器股份有限公司成立于2005年,致力于全尺寸鏈精密測量儀器及設備的研發(fā)、生產和銷售。


中圖儀器堅持以技術創(chuàng)新為發(fā)展基礎,擁有一支集光、機、電、信息技術于一體的技術團隊,歷經20年的技術積累和發(fā)展實踐,研發(fā)出了基礎計量儀器、常規(guī)尺寸光學測量儀器、微觀尺寸光學測量儀器、大尺寸光學測量儀器、常規(guī)尺寸接觸式測量儀器、微觀尺寸接觸式測量儀器、行業(yè)應用檢測設備等全尺寸鏈精密儀器及設備,能為客戶提供從納米到百米的精密測量解決方案。





三坐標測量機,影像儀,閃測儀,一鍵式測量儀,激光干涉儀,白光干涉儀,光學輪廓儀,激光跟蹤儀

產地類別 國產 應用領域 石油,地礦,交通,汽車,綜合

SuperViewW1三維白光干涉儀的雙通道氣浮隔振系統(tǒng),使得其既可以接入客戶現(xiàn)場的穩(wěn)定氣源也可以接入標配靜音空壓機,在無外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作。適用于各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、孔隙間隙、磨損情況、腐蝕情況、波紋度、臺階高度、表面缺陷、面形輪廓、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。


結果組成

1、三維表面結構:粗糙度,波紋度,表面結構,缺陷分析,晶粒分析等;

2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖,輪廓線等;

3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;

4、薄膜和厚膜的臺階高度測量;

5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量;

6、微電子表面分析和MEMS表征。


SuperViewW1白光干涉儀,白光干涉儀檢測儀器.jpg


部分參數(shù)

Z向分辨率:0.1nm

橫向分辨率(0.5λ/NA):100X~2.5X:0.5um~3.7um

粗糙度RMS重復性:0.1nm

表面形貌重復性:0.1nm

臺階測量重復性:0.1% 1σ;準確度:0.75%


SuperViewW1三維白光干涉儀分辨率0.1μm,重復性0.1%,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。應用領域廣泛,操作簡便,可自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù)。



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