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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測(cè)厚儀>涂層測(cè)厚儀>YT8200 金屬電鍍測(cè)厚儀

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YT8200 金屬電鍍測(cè)厚儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 廣東三恩時(shí)科技有限公司
  • 品牌 3nh/三恩時(shí)
  • 型號(hào) YT8200
  • 產(chǎn)地 廣東省廣州市
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2022/10/21 16:22:28
  • 訪問次數(shù) 747

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3nh、TILO、Sine image(三恩時(shí)、天友利、賽麥吉)均是本集團(tuán)公司旗下的注冊(cè)品牌。廣東三恩時(shí)科技有限公司是一家服務(wù)于工業(yè)智能制造的高科技企業(yè),能提供在線測(cè)量和智能表面測(cè)量解決方案的系統(tǒng)集成商,切實(shí)幫助企業(yè)快速發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的問題和癥結(jié),提升現(xiàn)場(chǎng)管理水平、優(yōu)化工藝流程、改善產(chǎn)品質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率、降低損耗與成本,助力客戶邁入“智能制造”時(shí)代!本公司的源頭企業(yè)始創(chuàng)于1998年,長(zhǎng)期以來,專業(yè)從事顏色管理領(lǐng)域的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務(wù)。 3nh是國(guó)內(nèi)大型的測(cè)色色差儀研發(fā)、生產(chǎn)廠家,產(chǎn)品系列有:TS系列分光測(cè)色儀、YS系列光柵式分光測(cè)色儀(便攜式/臺(tái)式)、NS系列分光色差儀、NH系列便攜式電腦色差儀和NR系列手提式色差儀; TILO品牌標(biāo)準(zhǔn)光源箱,擁有大型的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售基地; Sine Image是本公司旗下的圖像測(cè)試卡、測(cè)試軟件和解決方案品牌,包括自主研發(fā)生產(chǎn)的高清ISO12233分辨率(解析度)測(cè)試卡和其它全系列測(cè)試卡、照明光源、測(cè)試軟件和測(cè)試解決方案等,公司建有專業(yè)的影像測(cè)試實(shí)驗(yàn)室。

多年的沉淀積累,鑄就了我們堅(jiān)毅的信念。我司以博大精深的傳統(tǒng)文化為基石,結(jié)合現(xiàn)代*管理理念,為所有客戶提供高品質(zhì)可信賴的服務(wù)。同時(shí),更以海納百川的襟懷,不斷拓展集團(tuán)下的業(yè)務(wù)版塊,擴(kuò)大服務(wù)領(lǐng)域。展望未來,我們將一如既往地以*理念、優(yōu)秀的管理、盡善盡美的服務(wù)為所有客戶及員工創(chuàng)造品質(zhì)與價(jià)值,積極促進(jìn)行業(yè)的發(fā)展.

2666平方米深圳研發(fā)總部、營(yíng)銷中心,3500平方米生產(chǎn)基地,在上海設(shè)有營(yíng)銷中心,北京、廣州、蘇州均有自購(gòu)辦公物業(yè)...

始創(chuàng)于 1998年,永續(xù)經(jīng)營(yíng),做您身邊的顏色管理專家!

持續(xù)投資研發(fā)、開足生產(chǎn)馬力、樹立品牌形象、為客戶創(chuàng)造價(jià)值!

 

 

 

色差儀,分光測(cè)色儀,霧度儀,光澤度計(jì),色差寶,影像測(cè)試卡

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 1-1千
應(yīng)用領(lǐng)域 建材,汽車

產(chǎn)品介紹:

經(jīng)濟(jì)型分體鐵基涂層金屬電鍍測(cè)厚儀YT8200是3nh公司制造的*擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的國(guó)產(chǎn)涂層測(cè)厚儀,能依據(jù)磁性法快速、準(zhǔn)確的無(wú)損檢測(cè)各種涂覆在鐵磁性金屬基底上的各種非磁性涂層厚度。

鐵基涂層測(cè)厚儀YT8200測(cè)量準(zhǔn)確、測(cè)試量程大、多種校正模式、多種測(cè)量模式、定位方便、功能強(qiáng)大,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等表面工程檢測(cè)領(lǐng)域,是涂層表面處理行業(yè)的基本裝備。

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Fe基探頭可檢測(cè)噴涂在各種磁性基體(比如鋼鐵)上的各種非磁性涂層厚度,例如鐵板的油漆層、噴粉層、涂瓷層、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層等。

經(jīng)濟(jì)型分體鐵基金屬電鍍測(cè)厚儀YT8200特點(diǎn)

1、支持零點(diǎn)、單點(diǎn)、五點(diǎn)校正

支持多種校正方式,測(cè)試更便捷,可滿足更高測(cè)試精度需求

五點(diǎn)校正

2、IPS純彩屏,操作流暢,存儲(chǔ)容量大

IPS純彩屏

3、測(cè)量模式豐富

涂層測(cè)厚儀YT8200有基礎(chǔ)模式、品管模式、連續(xù)模式、統(tǒng)計(jì)模式可供選擇,適應(yīng)更多測(cè)試場(chǎng)景

測(cè)量模式豐富

4、精確測(cè)量曲面平面

凸面半徑5mm;凹面半徑10mm

精確測(cè)量曲面平面

5、高靈敏探頭

自主研發(fā)高靈敏探頭反應(yīng)速度快,測(cè)試更加準(zhǔn)確

高靈敏探頭

6、支持藍(lán)牙,手機(jī)APP、微信小程序更多擴(kuò)展功能

可即時(shí)通過藍(lán)牙把測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)绞謾C(jī),進(jìn)行相應(yīng)的數(shù)據(jù)編輯和處理,輸出測(cè)試報(bào)告。

支持藍(lán)牙

經(jīng)濟(jì)型分體鐵基涂層測(cè)厚儀YT8200技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào)

YT8200

產(chǎn)品名稱

經(jīng)濟(jì)型分體鐵基涂層測(cè)厚儀

特性

Fe基探頭可檢測(cè)噴涂在各種磁性基體(比如鋼鐵)上的各種非磁性涂層厚度,例如鐵板的油漆層、噴粉層、涂瓷層、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層等。

符合標(biāo)準(zhǔn)

ASTM B499,ASTM D1400,ASTM D709;
ISO 2178,ISO 2360,ISO 2808;
GB/T 4956,JB/T 8393

基體模式

鐵基

探頭形式

分體式

定位結(jié)構(gòu)

/

分辨率

1μm

測(cè)量范圍

0~2000μm

測(cè)量精度

零點(diǎn)校正:±(3%H+1)μm;
兩點(diǎn)校正:±(1~3%H+1.5)μm;
:H為樣品厚度

顯示屏

IPS全彩屏, 1.14inch

接口

Type C USB;藍(lán)牙5.0;按鍵

存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

1000條

電池電量

鋰電池,充滿電單次可連續(xù)測(cè)試10000

測(cè)量模式

基礎(chǔ)模式、品管模式、連續(xù)模式、統(tǒng)計(jì)模式

ZUI小測(cè)量尺寸

10×10mm

ZUI小測(cè)量厚度

磁性:0.2mm

ZUI小曲率

凸面半徑5mm;凹面半徑10mm

顯示單位

μm/mil

尺寸

102×50×20mm(探頭?18x69)

重量

80g

工作溫度

0~40oC(10~90%RH無(wú)凝露)

儲(chǔ)存溫度

-10~50oC

軟件支持

微信小程序,鴻蒙,Windows,Andriod,IOS

標(biāo)準(zhǔn)附件

基體1塊(鐵基體),腕帶,擦拭布,USB數(shù)據(jù)線,定位片,校準(zhǔn)片

可選附件

打印機(jī),5V-2A電源適配器

注:

校準(zhǔn)片一套5片(厚度略有差異),技術(shù)參數(shù)僅為參考,以實(shí)際銷售產(chǎn)品為準(zhǔn)

涂層測(cè)厚儀測(cè)量影響因素:

a基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

b基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

c基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

d邊緣效應(yīng)

本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

e曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

f試件的變形

測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。

g表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

g磁場(chǎng)

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。

h附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

i測(cè)頭壓力

測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。

j測(cè)頭的取向

測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中,應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。



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