TESCAN VEGA COMPACT
- 公司名稱 上海磊微科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2022/10/23 0:52:10
- 訪問次數(shù) 979
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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儀器種類 | 聚焦離子束 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子 |
TESCAN VEGA COMPACT 是 TESCAN 第四 代掃描電鏡中的一員,是一款微型鴇燈絲掃描電子 顯微鏡,為滿足實(shí)驗(yàn)室基本分析需求,優(yōu)化了成像 和成分分析功能,簡化了配置,是一款的 入門級高效分析型掃描電鏡。
TESCAN VEGA COMPACT升級使用了全新 的Essence™專用電鏡軟件,在單個(gè)窗口中就可以 實(shí)現(xiàn)SEM成像和實(shí)時(shí)元素分析,更大程度簡化了從 樣品上獲取形貌和元素?cái)?shù)據(jù)的過程,使得 VEGA COMPACT能夠更快速有效地完成大量樣品 的基礎(chǔ)檢測,使之成為經(jīng)濟(jì)高效的多功能分析工具。
四透鏡設(shè)計(jì)
Wide Field Optics™設(shè)計(jì),可提供多種工作模 式和顯示模式;專有的中間鏡(IML),采用電磁 的方式改變物鏡光闌一一中間鏡的作用如同連續(xù)可 調(diào)的光闌,無需任何機(jī)械對中的鏡筒設(shè)計(jì),使光路 合軸和校準(zhǔn)*自動(dòng)化;中間鏡帶來的實(shí)時(shí)電子束 追蹤技術(shù)(In-Flight Beam Tracing™),可模擬和 優(yōu)化電子束的束斑、束流;3D電子束技術(shù)(3D Beam Technology)可獲得實(shí)時(shí)立體成像。
• SE 分辨率:3 nm @ 30 kV
• 8 nm @ 3 kV
• 強(qiáng)大的低倍性能,為樣品的全景觀察和定位 提供了便利
• 新穎的EssenceTM操作軟件,操作者可以依 照喜好自定義界面,方便直觀
• 新穎的EssenceTM三維演示功能,保證了樣 品運(yùn)動(dòng)時(shí)樣品室內(nèi)探測器的安全
• *集成的Essence™ EDS功能,可以快 速,輕松地從成像切換到元素分析操作
1. 樣品全貌的大視野圖像
2. 樣品局部圖像
3. SE高分辨圖像
4. BSE高分辨圖像