安捷倫AgilentE7405A頻譜分析儀

E7405A

E7405A|Agilent E7405A EMC分析儀|惠普EMI測試儀

性能
頻率范圍：30Hz至26.5GHz
1 Hz至5 MHz（包括200 Hz、9 kHz、120 kHz、1 MHz EMI BW）
+12.5 dBm TOI
-150 dBm
+45 dBm二次諧波失真（SHI）
自動EMI測量
對數(shù)掃描
內(nèi)置前置放大器
可選跟蹤發(fā)生器
描述
對您設(shè)計的 EMI 性能進(jìn)行早期評估是產(chǎn)品*的關(guān)鍵。采用 Agilent EMC 預(yù)論證解決方案，您能得到進(jìn)行室內(nèi)預(yù)論證測試需要的全部功能特性，包括預(yù)先編程、自動測量、交互式軟件，以及獲得一致和可重復(fù)結(jié)果的自動測量功能。

新特性! 對數(shù)掃描
新特性! 1 Hz 和 3 Hz 分辨率帶寬
新特性! 在 Intern e t 上遠(yuǎn)程觀察和控制 E7400A
全彩色顯示
3.5‘ 磁盤驅(qū)動器
自動 EMI 測量
5 分鐘預(yù)熱
內(nèi)置前置放大器
堅固的便攜式設(shè)計

E7405A性能

頻率范圍：30Hz至26.5GHz
1 Hz至5 MHz（包括200 Hz、9 kHz、120 kHz、1 MHz EMI BW） 
12.5 dBm TOI 
≤ -150 dBm 
 +45 dBm二次諧波失真（SHI） 
自動EMI測量
對數(shù)掃描
內(nèi)置前置放大器 
可選跟蹤發(fā)生器

高頻信號源：N5183B， N5183A,E8257D,E8247C,E8267D,N5173B

性能描述:
盡早測試設(shè)計的 EMI 性能對于打造*的產(chǎn)品至關(guān)重要。E7405A EMC 標(biāo)準(zhǔn)分析儀提供了您需要的功能，使內(nèi)部 EMI 預(yù)先一致性測試成為可能。

EMC 標(biāo)準(zhǔn)分析儀通過內(nèi)置更多可以提高生產(chǎn)效率的選件并保證快速交付，為您創(chuàng)造大價值。

輻射發(fā)射
當(dāng)與寬帶天線配合使用時，E7405A 能夠檢測您的被測件散發(fā)的輻射發(fā)射。在沒有反射目標(biāo)的區(qū)域（例如開闊地）或 EMI 室內(nèi)，它的表現(xiàn)尤為出眾。

傳導(dǎo)發(fā)射
通過使用線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)（LISN）器件或功率吸收鉗，將 E7405A 儀器與電源線或數(shù)據(jù)線耦合，您可以對電源線或數(shù)據(jù)線產(chǎn)生的噪聲或受到的干擾信號進(jìn)行測量。

故障診斷和隔離
如果您遇到發(fā)射問題，可以使用 E7405A 和近場探頭來隔離和診斷故障源。

11940A 近場探頭，30 MHz 至 1 GHz

11941A 近場探頭，9 kHz 至 30 MHz
特性! 對數(shù)掃描 
新特性! 1 Hz 和 3 Hz 分辨率帶寬 
新特性! 在 Internet 上遠(yuǎn)程觀察和控制 E7400A 
全彩色顯示  3.5' 磁盤驅(qū)動器 
自動 EMI 測量 
5 分鐘預(yù)熱 
內(nèi)置前置放大器 
堅固的便攜式設(shè)計
選件:
11941A 11941A 近場探頭，9 kHz ～ 30 MHz
Agilent 11941A 手持式探頭專門用于測量表面電流的磁場輻射。