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Huace-DCS10KV 電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)/功能材料測(cè)試儀
- 公司名稱 北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
- 品牌 HUACE/北京華測(cè)
- 型號(hào) Huace-DCS10KV
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/12/12 13:42:16
- 訪問次數(shù) 1460
儲(chǔ)能電介質(zhì)材料電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)電介質(zhì)正常放電性能陶瓷和薄膜樣品測(cè)試電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)
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功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,航天,汽車,電氣 |
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電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) Huace-DCS10KV
電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)/功能材料測(cè)試儀產(chǎn)品介紹:
Huace-DCS10KV電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能。目前常規(guī)的方法是通過電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度,測(cè)試時(shí),樣品的電荷是放回到高壓源上,而不是釋放到負(fù)載上,通過電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度,無法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能。華測(cè)Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電系統(tǒng)采用專門設(shè)計(jì)的電容放電電路來測(cè)量,測(cè)試電路如下圖所示。在該電路中,首先將介電膜充電到給定電壓,之后通過閉合高速MOS高壓開關(guān),存儲(chǔ)在電容器膜中的能量被放電到電阻器負(fù)載的原理設(shè)計(jì)開發(fā),更符合電介質(zhì)充放電原理。
電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)/功能材料測(cè)試儀主要參數(shù):
1、電流探頭帶寬:120MHz;
2、峰值電流:0-100A,150 A(多種電流可監(jiān)測(cè));
3、電流采集精度:1mA;
4、高壓源模塊:3KV,5KV, 10kV,15KV多可選(電流:0-5mA);
5、開關(guān)適用:100萬次,耐壓15kV;
6、溫控范圍:0-200℃;
7、溫度穩(wěn)定性和精度:0.1℃;
8、測(cè)試樣品:薄膜,厚膜,陶瓷,玻璃等;
9、可以配合各種極化設(shè)備進(jìn)行多種壓電材料和介電材料的測(cè)試。
產(chǎn)品特點(diǎn) :
1、 本系統(tǒng)采用特殊高壓開關(guān),通過單刀雙擲控制充電和放電過程,開關(guān)可以承受10kV高壓,寄生電容小,動(dòng)作時(shí)間短;
2、 電壓10kV,電流5mA;
3、 可外接高壓放大器或高壓直流電源;
4、 通過電流探頭檢測(cè)放電電流,可達(dá)100A;
5、 可以實(shí)現(xiàn)欠阻尼和過阻尼兩種測(cè)試模式,欠阻尼測(cè)試時(shí),放電回路短路,不使用電阻負(fù)載,過阻尼測(cè)試時(shí),使用較大的高精
度無感電阻作為放電負(fù)載;
6、 可以作為一個(gè)信號(hào)源,產(chǎn)生任意波形;
7、 通過示波器采集數(shù)據(jù),并能直接計(jì)算儲(chǔ)能密度;
8、 定制載樣平臺(tái),可適用于陶瓷和薄膜樣品測(cè)試;
9、 可以進(jìn)行變溫測(cè)試,RT~200℃;
10、 可以進(jìn)行疲勞測(cè)試;
11、 還可用于極化材料之用。
儲(chǔ)能電介電放電行為
華測(cè)Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電系統(tǒng)采用專門設(shè)計(jì)的電容放電電路來測(cè)量。在該電路中,首先將介電膜充電到給定電壓,之后通過閉合高速M(fèi)OS高壓開關(guān),存儲(chǔ)在電容器膜中的能量被放電到電阻器負(fù)載。在放電過程中電壓對(duì)樣品的時(shí)間依賴性可以通過檢波器進(jìn)行記錄。介電材料的儲(chǔ)能性能通常取決于放電速度,可通過改變負(fù)載電阻器的電阻來調(diào)節(jié)。通常測(cè)試系統(tǒng)中裝了具有不同電阻的電阻器。在測(cè)試過程中,用戶需要選擇電阻器或幾個(gè)電阻器的組合獲得得所需的電阻,并將電阻器或電阻的組合連接到測(cè)試的電介質(zhì)材料。在該電路中,選擇高壓MOSFET開關(guān)以釋放儲(chǔ)存的能量非常重要。該開關(guān)限制電路的最大放電速度和最大充電電壓。本套測(cè)試系統(tǒng)由放電采集電路、高壓放大器或高壓直流電源和控制計(jì)算機(jī)構(gòu)成。在測(cè)試中,測(cè)試人員需要通過選擇合適的電阻來確定測(cè)量的放電速度,測(cè)試樣品上的電壓可以由計(jì)算機(jī)自動(dòng)獲得。
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