多選 奧林巴斯帶延遲塊測(cè)厚儀探頭

奧林巴斯帶延遲塊測(cè)厚儀探頭V201-RM 至V208-RM 超薄工件測(cè)厚

我們提供的各種頻率、晶片直徑及連接器類型的Panametrics超聲探頭有5000種以上。擁有40多年探頭研制經(jīng)驗(yàn)的OlympusNDT已經(jīng)開發(fā)了用于缺陷探測(cè)、焊縫檢測(cè)、厚度測(cè)量及材料分析等特殊應(yīng)用的各種各樣的定制探頭。

優(yōu)勢(shì)

• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場(chǎng)分辨率。• 較高的探頭頻率提高了分辨率。• 直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。

應(yīng)用

• 測(cè)厚。• 垂直聲束缺陷探測(cè)。• 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測(cè)。

可更換延遲塊探頭

• 每個(gè)探頭的配置都帶有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和 一個(gè)固定環(huán)。• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。

奧林巴斯帶延遲塊測(cè)厚儀探頭

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可更換延遲塊探頭選項(xiàng)