CHC706-RM 奧林巴斯超聲波雙晶探頭

奧林巴斯超聲波雙晶探頭CHC706-RM

介紹

雙晶探頭在同一個(gè)外殼中裝有由隔音屏障分開(kāi)的兩個(gè)晶片。一個(gè)晶片發(fā)射縱波，另一個(gè)晶片作為接收器接收聲波。

角度聲束探頭：

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波

發(fā)射到工件中。角度聲束探頭可以對(duì)工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無(wú)法到達(dá)的區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)。角

度聲束探頭一般用于焊縫檢測(cè)，因?yàn)槿绻褂脴?biāo)準(zhǔn)接觸式探頭，焊冠會(huì)擋住聲波，使聲波無(wú)法到達(dá)希望檢

測(cè)的焊縫區(qū)域，而且一般的缺陷對(duì)準(zhǔn)操作會(huì)使角度聲束產(chǎn)生更強(qiáng)的反射信號(hào)。

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以向被測(cè)工件內(nèi)部發(fā)射折射橫波或縱波。

優(yōu)勢(shì)

• 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時(shí)，還表現(xiàn)出防磨特性。

• 高溫楔塊可對(duì)熱材料進(jìn)行在役檢測(cè)。

• 用戶可根據(jù)需要定制楔塊，以得到非標(biāo)準(zhǔn)的折射角度。

• 具有可更換型和整合型兩種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。

• 具有外形吻合性能。

• 可提供在鋁制材料中獲得標(biāo)準(zhǔn)折射角度的楔塊及整合組件設(shè)計(jì)。

應(yīng)用

• 缺陷探測(cè)與定量。

• 要了解衍射時(shí)差探頭。

• 檢測(cè)管道、管件、鍛件、鑄件，機(jī)加工部件和結(jié)構(gòu)部件上的焊縫缺陷或裂縫。袖珍旋入式探頭

• 旋入式設(shè)計(jì)，303不銹鋼外殼。

• 不同頻率的探頭顏色不同。

• 兼容于短接近、Accupath、高溫和表面波楔塊。

延遲塊探頭：

延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是在探頭晶片前插有塑料或環(huán)氧材料制成的一個(gè)薄片。

延遲塊改進(jìn)了工件近表面缺陷的分辨率，可以測(cè)量更薄的材料厚度，并能提供更的厚度測(cè)量結(jié)果。延遲塊

可根據(jù)工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應(yīng)用中。

可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門(mén)與可更換的延遲塊一起使用。

優(yōu)勢(shì)

• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場(chǎng)分辨率。

• 較高的探頭頻率提高了分辨率。

• 直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。

• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。

應(yīng)用

• 測(cè)厚。

• 垂直聲束缺陷探測(cè)。

• 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測(cè)?？筛鼡Q延遲塊探頭

• 每個(gè)探頭的配置都帶有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和一個(gè)固定環(huán)。

• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。

• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。

應(yīng)用

• 剩余壁厚測(cè)量。• 腐蝕/侵蝕監(jiān)控。• 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測(cè)。• 探測(cè)鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。• 探測(cè)螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。

• 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的*高溫度為425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的*高

溫度為175°C（350°F）。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下，建議使用的占空因

數(shù)為*多10秒鐘接觸，然后進(jìn)行*少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍雙晶）。

• 金屬防磨環(huán)延長(zhǎng)了探頭的壽命。• 在探頭面需要重做表面處理時(shí)，防磨指示器會(huì)提供參考信息。• 滾花，303不銹鋼外殼。

• 可更換線纜的設(shè)計(jì)（備有帶應(yīng)變泄落功能的特殊雙線纜）。

復(fù)合晶片齊頭外殼雙晶