HELIOS 280nm-2400nm飛秒瞬態(tài)吸收超快光譜儀
- 公司名稱 上海濱賽光電科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 HELIOS
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/1/8 10:46:31
- 訪問次數(shù) 531
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
|---|
HELIOS 系列飛秒瞬態(tài)吸收超快光譜儀
HELIOS 系列是紫外-近紅外飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀。它設(shè)計基于各種放大飛秒激光器，包括高能Ti:Sapphire放大器和高重復(fù)率Yb放大器。加上我們的光學(xué)延遲線和光路設(shè)計，HELIOS提供的性能和用戶友好使用體驗。
。
產(chǎn)品特點：
超寬的波長范圍支持280nm-2400nm波段飛秒瞬態(tài)吸收光譜測量（基于不同的飛秒激光光源）
8納秒的時間窗口（可搭配EOS系統(tǒng)進一步延長時間窗口）
反射式探針光路設(shè)計
自動化的光學(xué)延遲線對齊，自動光路對準(zhǔn)，自動的UV,VIS,NIR和SWIR光譜范圍切換
產(chǎn)品配置及參數(shù)：
基于不同激光器的探針光譜范圍：
| with Ti:Sapphire lasers: | with Yb lasers: |
| 280-350nm | 350-750nm |
| 320-650nm | 480-950nm |
| 420-820nm | 800-1600nm |
| 820-1600nm | 1400-2000nm |
| 1600-2400nm |
標(biāo)配8ns的時間窗口可配置EOS進行擴展
基于HELIOS系統(tǒng)優(yōu)化配置過的光學(xué)參量放大器OPA和設(shè)計的光學(xué)延遲線ODL，易于整體系統(tǒng)配置
光學(xué)延遲線參數(shù)ODL：
時間窗口：8ns
時間分辨率：14fs
最小步進：2.8fs
最大掃描速度：>10ns/s
加速度：>260ns/s2
自動對準(zhǔn)時間：3-5分鐘
光束指向漂移（點穩(wěn)定性）：8ns內(nèi)小于10um
可配置不同樣品架，適配固體，液體，薄膜，粉末，樣品池，晶圓等樣品要求
HELIOS有第二個探針光路(參考)的選項。在這種情況下，探測光束在通過樣品之前被一分為二。當(dāng)一路光穿過樣品時，另一路光直接被送到參考光譜儀，用來監(jiān)測探針光束強度的波動。這種方法的主要優(yōu)點是它允許用戶用較低數(shù)量的平均激光脈沖實現(xiàn)的信噪比。該方法推薦用于低重復(fù)率，易于光降解的樣品的實驗，其中激光射擊的次數(shù)受到強烈限制。
HELIOS光譜儀也可以搭配兩種可選的顯微鏡升級顯微微區(qū)配置
應(yīng)用領(lǐng)域：
光物理、光化學(xué)、材料學(xué)、納米科學(xué)、光生物、瞬態(tài)光譜法、細(xì)胞生物學(xué)、生物物理學(xué)等方面
采購中心
化工儀器網(wǎng)