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ZSX Primus 400 日本理學(xué)連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 深圳華普通用科技有限公司
  • 品牌Rigaku/理學(xué)
  • 型號ZSX Primus 400
  • 所在地深圳市
  • 廠商性質(zhì)代理商
  • 更新時間2024/4/9 18:25:36
  • 訪問次數(shù) 809

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深圳華普通用科技有限公司,專業(yè)提供實驗室分析測試儀器和自動化方案。公司分為儀器代理和自主研發(fā)兩大業(yè)務(wù)板塊。代理業(yè)務(wù)是和著名儀器公司合作,從事設(shè)備代理以及售后服務(wù)。自主研發(fā)業(yè)務(wù)是綜合運用自動化、機器人、計算機視覺以及人工智能等技術(shù),為客戶提供標(biāo)準化儀器和自動化解決方案,降低實驗室人員工作強度,提升工作效率,同時提高工作質(zhì)量。

華普通用擁有一支高效的研發(fā)團隊和技術(shù)型的銷售隊伍,在公司十多年的發(fā)展過程中累了大量的行業(yè)案例和經(jīng)驗。華普通用愿通過不懈的努力,與廣大客戶、合作伙伴精誠合作,始終專注于為客戶提供智慧實驗室解決方案,助力客戶成功!



 

德國斯派克光譜儀,X射線熒光光譜儀,x熒光光譜儀,電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,火花直讀光譜儀,金屬合金分析儀,元素分析儀,掃描電鏡

價格區(qū)間 面議 行業(yè)專用類型 地質(zhì)巖礦
儀器種類 臺式/落地式 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,石油,地礦,冶金,汽車

日本理學(xué)連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400產(chǎn)品描述:

Rigaku ZSX Primus 400 連續(xù)波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設(shè)計。該系統(tǒng)可接受直徑最大為 400 毫米、厚度為 50 毫米和質(zhì)量為 30 千克的樣品,非常適合分析濺射靶材、磁盤,或用于多層薄膜計量或大型樣品的元素分析。

連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀

優(yōu)點:

帶有定制樣品適配器系統(tǒng)的 XRF,適應(yīng)特定樣品分析需求的多功能性,可使用可選適配器插件適應(yīng)各種樣品尺寸和形狀。憑借可變測量點(直徑 30 毫米至 0.5 毫米,具有 5 步自動選擇)和具有多點測量的映射功能以檢查樣品均勻性。

具有可用相機和特殊照明的 XRF,可選的實時攝像頭允許在軟件中查看分析區(qū)域。

仍保留了傳統(tǒng)儀器的所有分析能力。

安全性:

采用上照射設(shè)計,樣品室可簡單移出,再不用擔(dān)心污染光路,清理麻煩和增加清理時間等問題。

應(yīng)用領(lǐng)域:

固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析。

濺射靶材組成。

隔離膜:SiO2、BPSG、PSG、AsSG、Si?N?、SiOF、SiON等。

高 k 和鐵電介質(zhì)薄膜:PZT、BST、SBT、Ta2O5、HfSiOx。

金屬薄膜:Al-Cu-Si、W、TiW、Co、TiN、TaN、Ta-Al、Ir、Pt、Ru、Au、Ni等。

電極膜:摻雜多晶硅(摻雜劑:B、N、O、P、As)、非晶硅、WSix、Pt等。

其他摻雜薄膜(As、P)、困惰性氣體(Ne、Ar、Kr等)、C(DLC)。

鐵電薄膜、FRAM、MRAM、GMR、TMR;PCM、GST、GeTe。

焊料凸點成分:SnAg、SnAgCuNi。

MEMS:ZnO、AlN、PZT的厚度和成分。

SAW器件工藝:AlN、ZnO、ZnS、SiO 2(壓電薄膜)的厚度和成分;Al、AlCu、AlSc、AlTi(電極膜)。

日本理學(xué)連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400技術(shù)參數(shù):

大樣本分析:最大 400 毫米(直徑),最大 50 毫米(厚度),高達 30 千克(質(zhì)量)

樣品適配器系統(tǒng),適用于各種樣本量

測量點:30 毫米至 0.5 毫米直徑,5步自動選擇

映射能力,允許多點測量

樣品視圖相機(可選)

分析范圍:Be - U

元素范圍:ppm 至 %

厚度范圍:sub ? 至 mm

衍射干擾抑制(可選):單晶襯底的準確結(jié)果

符合行業(yè)標(biāo)準:SEMI、CE標(biāo)志

占地面積小,以前型號的 50% 占地面積



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