ANALECT_FT_NIR 傅里葉紅外光譜儀

ANALECT_FT_NIR 傅里葉紅外光譜儀

堅固，可靠，臺式或機(jī)架安裝FTIR/FT-NIR過程分析儀

ANALECT_FT_NIR 紅外光譜儀實時監(jiān)測的物理性質(zhì)和化學(xué)成分的液體和固體都從一個儀器,臺式或機(jī)架安裝選項 ,多功能的在線和現(xiàn)場過程監(jiān)控和最終產(chǎn)品檢測。

SpectraRTS提供靈活的系統(tǒng)設(shè)置和控制，廣泛的診斷，易于使用的腳本和強(qiáng)大的DCS通信。交互式通信允許在改變混合類型時自動切換模型集，從而大限度地提高混合測量效率。

分析儀的性能

•干涉儀耳堂IV密封模塊折射掃描設(shè)計。帶有固定角立方鏡的

精密交叉滾子軸承。

•光譜范圍:擴(kuò)展中紅外7400至450 cm-1;近紅外12000 ~ 1200 cm-1。

•分辨率:鍵盤可選擇到1.5 cm-1(未經(jīng)修飾);2 cm-1(已修訂)。掃描速度:自動優(yōu)化的檢測器類型或軟件可選擇的特定應(yīng)用。自適應(yīng)數(shù)字伺服驅(qū)動器采用激光正交作為正位置參考。

•修正功能:選擇14個鍵盤可選。標(biāo)準(zhǔn)功能。

•紅外源:內(nèi)部，風(fēng)冷，高效反射球。

•信號轉(zhuǎn)換:計算機(jī)可選擇的增益，高低通濾波器，延遲補(bǔ) 償。高精度,

24位Sigma Delta ADC。

•采樣光學(xué):內(nèi)部聚焦光束，外部準(zhǔn)直光束。

•游標(biāo)讀數(shù):連續(xù)，cm-1或納米橫坐標(biāo)，%T或吸光度單位。

•探測器:標(biāo)準(zhǔn)DTGS熱釋電。