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AF-T001 優(yōu)可測納米級(jí)別薄膜厚度測量儀

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白光干涉儀,三維形貌測量儀,表面輪廓儀,臺(tái)階儀,粗糙度儀

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 建材,電子,交通,汽車,綜合

ATOMETRICS優(yōu)可測是板石智能旗下專注于高精測量領(lǐng)域的國產(chǎn)自主品牌,致力為半導(dǎo)體、精密光學(xué)、新能源、3C消費(fèi)類電子、醫(yī)療、刀具、航空航天等行業(yè)和高校提供三維測量產(chǎn)品、解決方案及相關(guān)服務(wù),產(chǎn)品精度覆蓋到微米、納米甚至亞納米級(jí),滿足生產(chǎn)、研發(fā)和品控過程中表面粗糙度、臺(tái)階、3D形貌、三維形貌比對(duì)、高度、平面度、幾何圖形、平面尺寸、3D輪廓等各種測量需求。優(yōu)可測納米級(jí)別薄膜厚度測量儀,精度達(dá)0.1nm,多層膜測量---可測10層膜,毫秒級(jí)別的采樣頻率,比傳統(tǒng)膜厚儀提升2~3倍,更適合在線使用,優(yōu)可測支持客制化,根據(jù)客戶需求定制。

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