NM-300 優(yōu)可測(cè)衍射三維形貌儀

ATOMETRICS優(yōu)可測(cè)是板石智能旗下專注于高精測(cè)量領(lǐng)域的國(guó)產(chǎn)自主品牌，致力為半導(dǎo)體、精密光學(xué)、新能源、3C消費(fèi)類電子、醫(yī)療、刀具、航空航天等行業(yè)和高校提供三維測(cè)量產(chǎn)品、解決方案及相關(guān)服務(wù)，產(chǎn)品精度覆蓋到微米、納米甚至亞納米級(jí)，滿足生產(chǎn)、研發(fā)和品控過(guò)程中表面粗糙度、臺(tái)階、3D形貌、三維形貌比對(duì)、高度、平面度、幾何圖形、平面尺寸、3D輪廓等各種測(cè)量需求。優(yōu)可測(cè)衍射三維形貌儀，光柵尺寸新一代測(cè)量解決方案，可測(cè)膜厚、占空比、側(cè)壁角等，廣泛應(yīng)用于光通訊硅波導(dǎo)、生物芯片、NAND、AR/VR結(jié)構(gòu)光柵、DRAM、光學(xué)薄膜等，可測(cè)多種形貌結(jié)構(gòu)，可根據(jù)客戶不同光柵類型和場(chǎng)景提供客制化。