| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,航天,綜合 | 三維形貌測量重復性 | ＜0.5nm |
| 膜厚測量重復性 | 0.01nm | 折射率重復性 | 0.0005 |
ATOMETRICS優(yōu)可測是板石智能旗下專注于高精測量領域的國產(chǎn)自主品牌，致力為半導體、精密光學、新能源、3C消費類電子、醫(yī)療、刀具、航空航天等行業(yè)和高校提供三維測量產(chǎn)品、解決方案及相關服務，產(chǎn)品精度覆蓋到微米、納米甚至亞納米級，滿足生產(chǎn)、研發(fā)和品控過程中表面粗糙度、臺階、3D形貌、三維形貌比對、高度、平面度、幾何圖形、平面尺寸、3D輪廓等各種測量需求。優(yōu)可測衍射三維形貌儀，光柵尺寸新一代測量解決方案，可測膜厚、占空比、側壁角等，廣泛應用于光通訊硅波導、生物芯片、NAND、AR/VR結構光柵、DRAM、光學薄膜等，可測多種形貌結構，可根據(jù)客戶不同光柵類型和場景提供客制化。
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