Fischer X射線測(cè)厚儀菲希爾代理
- 公司名稱(chēng) 無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司
- 品牌 Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/6/20 18:42:27
- 訪問(wèn)次數(shù) 910
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥,綜合 |
Fischer X射線測(cè)厚儀菲希爾代理
由于運(yùn)用了各種測(cè)量技術(shù)，因此能夠?yàn)槿魏螠y(cè)量任務(wù)提供合適的解決方案。臺(tái)式儀器可以通過(guò)軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。XAN500一臺(tái)儀器，三種作業(yè)模式：XAN®500不只是一臺(tái)手持便攜式XRF設(shè)備，它還可以轉(zhuǎn)變?yōu)榕_(tái)式儀器或者整合到生產(chǎn)線中。
MMS PC2采用不同測(cè)量技術(shù)的模塊化系統(tǒng)：非常適用于與涂鍍層厚度測(cè)量和材料測(cè)試相關(guān)的各種需求。
CMS2臺(tái)式測(cè)厚儀，幾乎可測(cè)量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層（包括多鍍層）的厚度。
GOLDSCOPEGOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專(zhuān)為分析黃金和其他貴金屬而設(shè)計(jì)的
XAN用于快速、地測(cè)量鍍層厚度及材料成分分析的測(cè)量?jī)x器。
XUL / XULM基于 X 射線熒光法的測(cè)試儀器，堅(jiān)固耐用，快速、地測(cè)量鍍層厚度，特別適用于電鍍行業(yè)。
XDL / XDLM / XDAL功能強(qiáng)大：XDL 系列儀器具有的配置方案，可手動(dòng)或自動(dòng)測(cè)試，是鍍層厚度測(cè)量與材料成分分析的理想之選。
XDV-SDDFISCHERSCOPE® XDV-SDD專(zhuān)為滿足要求的鍍層厚度測(cè)量和材料分析而設(shè)計(jì)
XDV-µFISCHER的XDV-µ型系列儀器，可用于測(cè)量電子或珠寶等行業(yè)中最微小結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品
XUVX 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測(cè)量室。
XDL / XDLM / XDAL憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)（可選）與自上而下的測(cè)量方向，XDL® 系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào)，從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線儀器。
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