M-300 藍(lán)岸探針臺(tái)M系列
參考價(jià) | ¥100000-¥600000/件 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 似空科學(xué)儀器(上海)有限公司
- 品牌藍(lán)岸
- 型號(hào)M-300
- 所在地上海市
- 廠商性質(zhì)代理商
- 更新時(shí)間2023/8/30 18:54:05
- 訪問次數(shù) 787
產(chǎn)品標(biāo)簽
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LANANtek M系列探針臺(tái)
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主要特點(diǎn) ●可選配高溫測(cè)試環(huán)境 ●可選直筒顯微鏡,體式顯微鏡或金相顯微鏡 ●載物臺(tái)可Z軸升降 ●載物臺(tái)Theta可粗調(diào)360°,微調(diào)±7° ●載物臺(tái)XY移動(dòng)分辨率為1um ●可選配高壓高流測(cè)試環(huán)境 ●快速裝片并可任意位置鎖定功能 ●穩(wěn)定型顯微鏡橋架,移動(dòng)分辨率為2um,顯微鏡氣動(dòng)升降 | 選配附件 ●射頻測(cè)試探頭及電纜 ●低漏電電流/電容測(cè)試 ●激光修復(fù) ●探針卡/封裝/PCB 板夾具 ●有源探頭 ●高壓高流模塊 ●高清數(shù)字相機(jī) ●Hot Chuck ●載物臺(tái)水平調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu) |
應(yīng)用領(lǐng)域 ●Failure analysis 集成電路失效分析 ●Wafer level reliability 晶元可靠性認(rèn)證 ●Device characterization 元器件特性量測(cè) ●Process modeling 塑性過程測(cè)試(材料特性分析) ●IC Process monitoring 制成監(jiān)控 ●Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試 ●ESD&TDR testing ESD和TDR測(cè)試 ●Microwave probing 微波量測(cè)(高頻測(cè)試) ●Solar太陽能領(lǐng)域檢測(cè)分析 ●LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測(cè)分析 ●PCB領(lǐng)域檢測(cè)分析 ●VESEL DFB,COC,硅光等光電器件測(cè)試 | 兼容測(cè)試儀器 ●各種型號(hào)示波器 ●各品牌半導(dǎo)體參數(shù)分析儀,博測(cè),是德,泰克,概倫等 ●各種品牌的網(wǎng)絡(luò)分析儀,是德,羅德施瓦茨,思儀等 ●各種品牌型號(hào)的源表 |