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賽默飛Talos™ F200X掃描/透射電子顯微鏡

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京瑞科中儀科技有限公司
  • 品牌 Thermofisher Scientific/賽默飛世爾
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時間 2024/7/10 13:04:57
  • 訪問次數(shù) 796

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北京瑞科中儀科技有限公司專注半導(dǎo)體材料研究分析設(shè)備的研發(fā)和應(yīng)用。專業(yè)的團隊,專精的服務(wù),提供理想的解決方案。

我們長期專注于半導(dǎo)體材料研究與分析設(shè)備的經(jīng)銷和代理,為高校、企業(yè)科研工作者提供專業(yè)的分析解決方案。以專業(yè)技能為導(dǎo)向,用科技來解決用戶在科研中遇到的難題。專業(yè)的技術(shù)工程師和科研工作者進(jìn)行現(xiàn)場演示和技術(shù)交流,打消顧慮,彼此協(xié)作,為我國的科研領(lǐng)域譜寫新篇章。

北京瑞科中儀科技有限公司長期代理銷售供應(yīng)多種分子材料的研究分析設(shè)備,其中包括但不限于掃描電子顯微鏡、感應(yīng)耦合等離子體化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)、離子束刻蝕機、等離子清洗機、物理氣相沉積系統(tǒng)以及各品牌的光學(xué)顯微鏡以及實驗室設(shè)備儀器。

客戶至上的服務(wù)理念,以人為本的企業(yè)文化,我們始終為用戶提供專業(yè)的服務(wù)!

合作丨共贏,選擇我們,選擇未來!

 

半導(dǎo)體材料分析,材料刻蝕

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工

默飛世爾科技的 Talos™   F200X 掃描/透射電子顯微 鏡(S/TEM)提供最快速,納米材料多維定 量表征。由于配備了多種創(chuàng)新功能以提高效率、精度 和使用便易度,Talos™  F200X 是學(xué)術(shù)、政府和工業(yè) 等 領(lǐng)域進(jìn)行高級研究與分析的理想選擇。

高分辨圖像數(shù)據(jù)質(zhì)量更好

賽默飛世爾科技的 Talos™   F200X S/TEM 融合了高分辨 率 STEM 和 TEM 成像,行業(yè) X 射線能量色散譜(EDS) 信號檢測,以及通過成分面掃實現(xiàn)三維化學(xué)表征等功能。利用 智能掃描引擎、基于多個STEM    探測器的四通道合并技術(shù),以 及微分相位襯度(DPC)成像技術(shù),賽默飛世爾科技  Velox™    S/ TEM  控制軟件顯著地改善  S/TEM  成像質(zhì)量,可以更好地分析 電磁結(jié)構(gòu),并實行快速、準(zhǔn)確的 EDS 數(shù)據(jù)處理及定量分析。

賽默飛世爾科技的高亮度 X 場發(fā)射電子槍可以在提供高達(dá)標(biāo)準(zhǔn) 肖特基場發(fā)射電子槍五倍束流的同時保持較小的會聚角。用戶 可以獲得高信噪比及STEM、EDS   圖像分辨率和更多高 分辨  TEM應(yīng)用。此外,X  場發(fā)射電子槍所具有的高穩(wěn)定性及使 用壽命長等特點使其具有更高的成像效率。

顯示范圍更廣、獲取圖像速度更快Talos™  快速 D/TEM 成像支持 高分辨率以及原位動態(tài)成像。賽默飛世爾科技的 Ceta 16M™  相 機的視場范圍更大,圖像采集速率可高達(dá)每秒 25 幀。同時壓電 樣品臺可以確保高靈敏度,無漂移成像及精確樣品導(dǎo)航。因此    Talos™  在節(jié)約用戶時間的同時可以采集更多樣品數(shù)據(jù)。


賽默飛Talos™  F200X掃描/透射電子顯微鏡加快納米尺度范圍內(nèi)分析解決問題的速度

Talos™  F200X 采用賽默飛世爾科技保護(hù)的Super-X™  集

成 EDS 系統(tǒng),它配備了4 個硅漂移 X 射線探測器 (SDD),具有  靈敏度,每秒可收集高達(dá) 105 幅能譜。通過 Super-X™  與   A-TWIN 物鏡集成,Talos™  F200X 最大限度地提高了 X 射線收 集效率,同時達(dá)到給定束流下(即使對低強度 EDS 信號)的理  想輸出計數(shù)率。

主要優(yōu)勢

提供更優(yōu)質(zhì)的圖像:  同時進(jìn)行多重信號探測的高效率 STEM 成像技術(shù)為高質(zhì)量的圖像提供了更好的圖像對比度

快速獲取化學(xué)成分?jǐn)?shù)據(jù):快速,精確定量 的 EDS 分析技術(shù)以 揭 示納米級成分細(xì)節(jié)

更多應(yīng)用空間:利用專用的各種原位樣品桿進(jìn)行原位動態(tài)實驗

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讓研究更輕松

Talos™   采用用戶友好的數(shù)字界面和人體工學(xué)設(shè)計,允許多名科學(xué)家訪問圖像和分析工作流程。快速圖像采集與簡單易用的操作平臺相結(jié)合,即使是經(jīng)驗不豐富的操作員也可以快速收集結(jié)果。使用全程遙控操作,可以提高使用的便利度并增強環(huán)境穩(wěn)定性。為了保持生產(chǎn)率,Talos™   還配備了新的狀況監(jiān)視器,  以便收集重要的儀器參數(shù),便于遠(yuǎn)程診斷和支持。


賽默飛Talos™  F200X掃描/透射電子顯微鏡特征

• 領(lǐng)域光學(xué)性能:恒定功率 A-TWIN 物鏡

• 易用性:快速、簡單的操作切換,可用于多用戶環(huán)境

• 超穩(wěn)定平臺:恒定功率物鏡、壓電樣品臺、可靠的系統(tǒng)外殼和 遙控操作確保最高的穩(wěn)定性

• SmartCam 相機:數(shù)字搜索和查看相機可以提高所有應(yīng)用 的處理能力,并可以在日光下操作。

• 集成的快速探測器:Ceta 16M 像素 CMOS 相機可提 供較大的視場和很高的讀取速度 (25 fps @ 512×512)

• 全程遙控操作:自動光闌系統(tǒng)與 Ceta 相機相結(jié)合,支持 全程遙控操作

• 提高分析能力:Talos™  利用 EDS 三維成像技術(shù)將化學(xué)成分分 析能力從二維擴展到三維 。


安裝要求

詳細(xì)數(shù)據(jù),請參考預(yù)裝指南。


Talos F200X

X-FEG 亮度

1.8 ×109 A/cm2 srad (@200kV)

總束電流

> 50nA

探針電流

1.5 nA @ 1 nm probe (200 kV)

Super-X EDS 系統(tǒng)

4 SDD 對稱,無窗設(shè)計,遮板保護(hù)

能量分辨率

≤136 eV for Mn-K“ and 10 kcps (輸出)

EDS 快速面掃

像素駐留時間 低至 10 μs


A-Twin

STEM HAADF 分辨率

0.16 nm

EDX 立體角

0.9 srad

TEM 信息分辨率

0.12 nm

最大衍射角

24?

雙傾桿最大傾轉(zhuǎn)角

±35° alpha tilt / ±30° beta tilt

最大測角器(樣品臺)傾轉(zhuǎn)角

±90?





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