DUO泰勒霍普森粗糙度儀

DUO泰勒霍普森粗糙度儀

英國泰勒SURTRONIC DUO是英國泰勒公司 新型粗糙度儀，SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測 Ra ， Rz 兩種參數(shù)。 DUO 具有紅外接口可在距離被測物 1 米處進行測量。
泰勒霍普森SURTRONIC DUO新型粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，其設計可滿足不同的技術與工作環(huán)境要求。
泰勒霍普森SURTRONIC DUO新型粗糙度儀快速測量 在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可
泰勒霍普森攜帶方便 DUO粗糙度儀 可應用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。
經(jīng)外接口 操作者可在距離被測工件 1m 處操作測量。
校準方便 DUO 粗糙度儀具有自身校準標準，可預設標準值，通過 LCD 顯示出來。
測針保護 不用時，設“ park ”位置可全面保護測針。
人體工程學設計
DUO新型粗糙度儀量 程： 200um
行 程： 5mm
取樣長度： 0.8mm+/-15%
參 數(shù)： Ra ： 0.1um-40um Ra ： 0.1um-199um
精 度： Ra:0.1um Rz:0.1um
尺 寸： 125*80*38mm
檢測方式： 壓電式
DUO新型粗糙度儀重 量： 200g