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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>X射線儀器>X射線衍射儀(XRD)>SmartLab系列 日本理學(xué)智能X射線衍射儀

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SmartLab系列 日本理學(xué)智能X射線衍射儀

參考價(jià)1000000-3000000/件
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海斯邁歐分析儀器有限公司
  • 品牌其他品牌
  • 型號(hào)SmartLab系列
  • 所在地上海市
  • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間2024/12/24 11:43:00
  • 訪問(wèn)次數(shù) 1614
產(chǎn)品標(biāo)簽

X射線衍射儀XRDX射線分析裝置

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上海斯邁歐經(jīng)銷代理眾多進(jìn)口品牌儀器(珀金埃爾默、賽默飛、島津、安捷倫、沃特世、AB、耶拿、日立等),主營(yíng)產(chǎn)品有氣相色譜、液相色譜、原子吸收光譜儀、紫外分光光度計(jì)、氣質(zhì)聯(lián)用儀、液質(zhì)聯(lián)用儀;斯邁歐團(tuán)隊(duì)成員均來(lái)自*儀器公司,具備豐富的儀器行業(yè)從業(yè)經(jīng)歷。

公司站在用戶角度,以企業(yè)“節(jié)約成本,提高質(zhì)量,科學(xué)管理”為導(dǎo)向,擔(dān)負(fù)著各行業(yè)“質(zhì)量求發(fā)展”的使命,更好地為科研單位、企業(yè)生產(chǎn)、院校教學(xué)、第三方檢測(cè)等領(lǐng)域而服務(wù)。

斯邁歐公司自成立以來(lái),始終秉承“誠(chéng)信為根,服務(wù)為本”的經(jīng)營(yíng)理念,以敬業(yè)、務(wù)實(shí)、拼搏的工作熱忱,本著“精益求精、全心全力”的服務(wù)原則,為我們的客戶提供精準(zhǔn)、精密、科技、科學(xué)的計(jì)量檢測(cè)儀器。


氣相色譜、液相色譜、氣質(zhì)聯(lián)用儀、液質(zhì)聯(lián)用儀、原子吸收光譜儀、紫外分光光度計(jì)

價(jià)格區(qū)間 150萬(wàn)-200萬(wàn) 儀器種類 多晶衍射儀
應(yīng)用領(lǐng)域 綜合

日本理學(xué)智能X射線衍射儀SmartLab系列介紹 

智能X射線衍射儀SmartLab系列,是當(dāng)今高性能的多功能的X射線衍射儀,它采用了理學(xué)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)、智能的測(cè)量分析軟件SmartLab Guidance,一臺(tái)儀器可以智能進(jìn)行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜樣品測(cè)試。


日本理學(xué)智能X射線衍射儀SmartLab系列技術(shù)參數(shù)

• 1、X射線發(fā)生器功率為3KW、新型9KW轉(zhuǎn)靶

• 2、測(cè)角儀為水平測(cè)角儀

• 3、測(cè)角儀最小步進(jìn)為1/10000度,最高精度測(cè)角儀(雙光學(xué)編碼、直接軸上定位)

• 4、測(cè)角儀配程序式可變狹縫

• 5、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)

• 6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路(帶Mirror)

• 7、小角散射測(cè)試組件(SAXS / Ultra SAXS)

• 8、多用途薄膜測(cè)試組件

• 9、微區(qū)測(cè)試組件、CBO-F微區(qū)光學(xué)組件

• 10、In-Plane測(cè)試組件

• 12、高速探測(cè)器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)

• 13、二維面探PILATUS 100K/R(用于同步輻射環(huán)的探測(cè)器,可以接收直射X射線)

• 14、智能的測(cè)量分析軟件SmartLab Guidance


主要特點(diǎn)

智能X射線衍射儀SmartLab系列,可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。

可以分析的材料包括:金屬材料、無(wú)機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料

可以分析的材料狀態(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品

主要的應(yīng)用有:

1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

2. 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小

3. 確定晶系、晶粒大小與畸變

4. Rietveld定量分析

5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度

6. In-Plane裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)

7. 小角散射與納米材料粒徑分布

8. 微區(qū)樣品的分析




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