蔡司 Xradia 800 Ultra顯微鏡
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司
- 品牌 ZEISS/蔡司
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2024/9/23 14:57:32
- 訪問次數(shù) 769
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
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蔡司 Xradia 800 Ultra顯微鏡總體描述
創(chuàng)新的蔡司 Xradia 800 Ultra顯微鏡,將高通量實驗室 X 射線源與專業(yè)的X 射線光學器件整合至一套獨立的超高分辨率 CT 掃描 X 射線顯微鏡中,從而填了 SEM、TEM 或 AFM 等現(xiàn)有高分辨率成像技術與光學顯微鏡技術或傳統(tǒng) microCT 技術之間的空白。技術參數(shù):
無損三維 X 射線成像允許在直接微觀結構觀察下對同一樣品進行重復成像
在原位設備中樣品成像保持低至 50nm 的高分辨率
用于斷層掃描重構的圖像自動調整功能
視野可在 15 至 60 μm 的范圍內進行切換
吸收襯度和 Zernike 相位襯度成像模式
在實驗室中開發(fā)、準備、測試你計劃的同步實驗,讓有限的同步輻射時間更加有效率
搭配 Scout-and-Scan 控制系統(tǒng)和基于工作流程的用戶界面,尤其適合研究人員水平各不相同的中心實驗室
特點:
Xradia 800 Ultra 的分辨率低至50 nm,使微觀結構和進程可視化,這些是傳統(tǒng)實驗室 X 射線技術不能實現(xiàn)的。在 X 射線能量為8 KeV下運行穿透力和襯度適合各種材料,使您可以觀察自然狀態(tài)下的結構和材料。集成相位襯度技術的 Xradia 800 Ultra 運用 Zernike 方法在吸收襯度低時可增強晶界和材料交界處的可見度,使未染色的超結構和納米結構可視化。
蔡司Xradia 800 Ultra 采用類似橫切法的無損技術,提供可信賴的內部 3D 信息。大工作距離和空氣樣品環(huán)境使您可以輕松的進行原位研究。