TCM2.142 德國(guó)FOERSTER多功能渦流探傷儀

德國(guó)FOERSTER多功能渦流探傷儀TCM2.142

FOERSTER–無(wú)損材料檢測(cè)的合作伙伴

FOERSTER這個(gè)名字自1993年以來一直是最高質(zhì)量和精度的代名詞。我們開發(fā)和生產(chǎn)用于金屬材料無(wú)損檢測(cè)、金屬檢測(cè)和磁學(xué)的設(shè)備和系統(tǒng)。

我們通過渦流或漏磁檢測(cè)等電磁檢測(cè)方法，以及超聲波和感應(yīng)熱通量熱成像，使表面缺陷可見。我們的探測(cè)設(shè)備還使用高靈敏度Fluxgate磁力計(jì)來精確定位遺留遺址、未爆藥和考古文物。用于確定金屬部件的磁性能和硬度測(cè)試的設(shè)備構(gòu)成了我們?nèi)娴漠a(chǎn)品組合。

除了開發(fā)單個(gè)設(shè)備外，我們的能力還在于實(shí)施完整的、針對(duì)客戶的測(cè)試線及其自動(dòng)化。通過我們的業(yè)務(wù)解決方案，我們還為您提供全面的服務(wù)。我們將自己視為整個(gè)產(chǎn)品生命周期的合作伙伴：從開發(fā)到設(shè)計(jì)、生產(chǎn)再到服務(wù)和培訓(xùn)。

憑借合格的銷售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)，我們?cè)谌?0多個(gè)國(guó)家/地區(qū)為您服務(wù)。我們讓質(zhì)量看得見。

FOERSTER的新型移動(dòng)式通用渦流檢測(cè)儀TCM

一個(gè)平臺(tái)可用于所有渦流檢測(cè)任務(wù)。

TCM 創(chuàng)新平臺(tái)可以改變渦流便攜式無(wú)損檢測(cè)（NDT）

優(yōu)勢(shì)：

1.旋轉(zhuǎn)、高頻、低頻應(yīng)用的渦流檢測(cè)等。

2.C掃描

3.多達(dá)8個(gè)頻率的多頻率檢查

4.“凍結(jié)”渦流數(shù)據(jù)的后處理

5.靈活的探頭選擇

特點(diǎn)：

1.利用智能技術(shù)提供多個(gè)探針應(yīng)用程序和用戶友好的界面

2.支持強(qiáng)大的應(yīng)用程序，從分揀檢測(cè)到電導(dǎo)率測(cè)量和裂紋檢測(cè)

3.多功能、適應(yīng)性強(qiáng)，可在惡劣環(huán)境中使用，并適應(yīng)不同的用戶專業(yè)知識(shí)

4. 通過確保靈活性、可靠性和培訓(xùn)能力，轉(zhuǎn)變無(wú)損檢測(cè)

設(shè)計(jì)用于多用途

移動(dòng)測(cè)試通常需要各種測(cè)試系統(tǒng)。FOERSTER的多功能新型TCM是現(xiàn)有渦流檢測(cè)產(chǎn)品的統(tǒng)一平臺(tái)?，F(xiàn)在，使用DEFECTOSCOP測(cè)量殘余壁厚的深穿透低頻（LF）測(cè)試和使用DEFECTOMETER檢測(cè)最小裂紋的高頻（HF）測(cè)試集成在一個(gè)設(shè)備中。

TCM平臺(tái)還涵蓋非鐵磁性材料的電導(dǎo)率測(cè)量。直觀的觸摸界面允許用戶通過相應(yīng)的應(yīng)用程序選擇單個(gè)任務(wù)。自動(dòng)探針識(shí)別可幫助您設(shè)置最佳測(cè)試和測(cè)量參數(shù)，以獲得最佳結(jié)果。

可用的軟件模塊

DEFECTOSCOP：使用旋轉(zhuǎn)、HF和LF探頭進(jìn)行通用渦流檢測(cè)。

SIGMATEST：測(cè)量非鐵磁性金屬的電導(dǎo)率。

ECA（渦流陣列）：通過多達(dá)512個(gè)通道的傳感器陣列進(jìn)行渦流檢測(cè)

德國(guó)FOERSTER多功能渦流探傷儀TCM2.142參數(shù)

物理參數(shù)

顯示器：8.0英寸觸摸屏，1280 x 800尼特，在陽(yáng)光下可讀，在使用手指或手套之間切換

防護(hù)：IP 66，跌落高度1.8m

重量：1.3公斤

尺寸：227毫米x 150毫米x 40毫米（長(zhǎng)x寬x高）

溫度：-20°C至+50°C

電源：電池時(shí)間：6h

攝像頭：后置攝像頭8.0 MP，前置攝像頭2.0 MP

存儲(chǔ)：128 GB SSD

連接端口：19針LEMO、Thunderbolt 4、USB 3.2 Gen2（C型）、microSD讀卡器

音頻：音頻輸入/輸出（組合插孔）

文檔：保存/導(dǎo)出原始數(shù)據(jù)、屏幕截圖、報(bào)告

嵌入式幫助：查找有關(guān)每個(gè)設(shè)置和對(duì)話框的信息，以便快速保存使用情況

語(yǔ)言：英語(yǔ)、德語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、日語(yǔ)、中文、捷克語(yǔ)、意大利語(yǔ)、法語(yǔ)


測(cè)試參數(shù)

頻率范圍：4 Hz–20 MHz，以1 Hz為增量可調(diào)

多頻率：最多8個(gè)頻率并行混合兩個(gè)頻率以減少干擾信號(hào)

濾波器：低通和高通濾波器1 Hz–20.000 Hz

增益：-20 dB至+120 dB，增量為0.1 dB

相位：0–360°，增量為0.1°

X和Y增益：0–60 dB，增量為0.1 dB

X/Y偏移：-50/+50，增量為5%

探針檢測(cè)：自動(dòng)輸入放大器調(diào)整和最大輸出電流

前置放大器：-18、-12、-6、0、6、12、18、24、30、36 dB

最大輸出電流：400 mA（峰值），10 V峰值-峰值

數(shù)據(jù)分辨率：32位

采樣率：高達(dá)40000值/秒

Afterlight： 0.1–60秒，無(wú)窮遠(yuǎn)，紅色同步

圖表：x/y、t、x/y、t、C掃描

閾值線：直線、圓、框、扇區(qū)

凍結(jié)模式信號(hào)可凍結(jié)：增益等參數(shù)相位仍然可變

符合：DIN EN ISO 15548標(biāo)準(zhǔn)

文檔

報(bào)告可以自定義并保存為PDF

將屏幕截圖捕獲為PNG

原始數(shù)據(jù)的記錄和后續(xù)加載進(jìn)一步調(diào)整自動(dòng)記錄所有相關(guān)渦流參數(shù)

陣列技術(shù)多達(dá)512個(gè)探針元件

支持的探測(cè)器

旋轉(zhuǎn)頭和探頭（5–24 V）

所有變壓器探頭，如絕對(duì)、差動(dòng)和其他參數(shù)探針類似于DEFECTOMETER探針

橋式探頭（可調(diào)電阻5,25,50100200Ω）其他制造商的探頭與TCM配合使用

電導(dǎo)率測(cè)量頻率60、120、240、480 kHz

電導(dǎo)率測(cè)量

精度為測(cè)量值：+/-0.7%（60 kHz，14 mm探頭）

電導(dǎo)率測(cè)量分辨率：測(cè)量值的+/-0.1%

電導(dǎo)率測(cè)量范圍：0.5至65 MS/m（1-112%IACS）

助理

自動(dòng)設(shè)置助手

識(shí)別探頭和啟動(dòng)設(shè)置

設(shè)置使用旋轉(zhuǎn)探頭的過濾器