高分辨成像的業(yè)界*

應(yīng)用靈活性，高水平論文的發(fā)表

·  高分辨率成像和定量的材料性能成像。

·  提供多模塊功能的MultiMode

·  發(fā)表論文AFM

·  峰值力模式實(shí)現(xiàn)

       MultiMode是受歡迎的掃描探針顯微鏡，得到客戶的高度，迄今為止數(shù)以萬計(jì)的MultiMode®掃描探針顯微鏡已經(jīng)在成功安裝使用。其世屆的分辨率，儀器性能，以及得到充分驗(yàn)證的數(shù)據(jù)，奠定了其在AFM領(lǐng)域的。

定量成像模式
·  Bruker的新型成像模式PeakForce QNM，可以對材料納米尺度的力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量檢測，在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘附力和彈性模量圖像。與傳統(tǒng)的相位成像和某些廠家的多頻技術(shù)不同的是，使用PeakforceQNM模式可獲得、定量的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
·  PeakForce TUNA模塊，能夠定量測量樣品的導(dǎo)電特性，這是傳統(tǒng)的導(dǎo)電模式所不能實(shí)現(xiàn)的。
·  推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實(shí)現(xiàn)快速掃描模式。與傳統(tǒng)的AFM相比，在其速度高6倍時仍不損失圖像分辨率，獲得分辨的AFM圖像。掃描速度，可比傳統(tǒng)的AFM高20倍。

具有高的分辨率和測試性能
·  迄今為止，利用MultiMode系列原子力顯微鏡，已發(fā)表大量高水平論文，幫助科學(xué)家們解決了
·  諸多重大前沿科研問題。MultiMode8采用結(jié)構(gòu)緊湊的剛性設(shè)計(jì)，即使樣品的測試難度大，測試條件為苛刻，也能實(shí)現(xiàn)低系統(tǒng)噪音，獲得分辨率的圖像。
·  NanoScope®V控制器提供業(yè)界系統(tǒng)噪音和帶寬，大大高了數(shù)據(jù)分析能力，適用于更多的研究領(lǐng)域。
·  Bruker的Peak Force Tapping® 技術(shù)，控制針尖與樣品的作用力，可遠(yuǎn)低于TappingMode所需要的力。

適用于各研究領(lǐng)域
·  大氣或者溶液環(huán)境中，MultiMode8都能夠完成樣品檢測，以其分辨率和功能，被廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、材料、電子以及生命科學(xué)等各個領(lǐng)域。
·  在MultiMode8上可選配溫度調(diào)節(jié)和環(huán)境控制附件。加熱到250°C，冷卻至-35°C，或在水蒸氣和氧氣含量小于1ppm的手套箱中，都可以實(shí)現(xiàn)敏感樣品的檢測和成像。
·  MultiMode8基本操作模式的基礎(chǔ)上選配不同功能的附件，可在高分辨成像的同時，獲得樣品的力學(xué)、電學(xué)、磁學(xué)、熱力學(xué)等各項(xiàng)性能指標(biāo)