孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)
- 公司名稱 復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
- 品牌 Phenom/飛納電鏡
- 型號
- 產(chǎn)地 荷蘭
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/1/2 14:33:59
- 訪問次數(shù) 3329
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孔徑尺寸范圍 | 100 nm – 0.1 mm | 孔徑探測速度 | 高達(dá) 1000 個(gè)/分鐘 |
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孔徑測量屬性 | 大小、形狀、數(shù)量 |
飛納掃描電鏡結(jié)合孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng),能夠輕松生成并分析掃描電鏡(SEM)圖像。一體化孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)能夠使用戶獲得孔徑的分布狀態(tài)、孔隙參數(shù)如孔徑尺寸和長寬比。全自動(dòng)化的孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)提供超越光學(xué)顯微鏡觀察水平的結(jié)果,帶來進(jìn)一步的探索和創(chuàng)新。生成報(bào)告時(shí),可以把柱狀圖和生成的圖像以選定的格式輸出。
孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)使用戶更好地了解材料特性,可以提取出完整的孔徑詳細(xì)信息。孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)拉開了孔徑測量軟件的大幕。在探究多孔結(jié)構(gòu)對材料孔隙率和過濾工藝的影響時(shí),這種分析尤其重要。
1)從飛納電鏡中直接獲取圖像
2)測量孔徑的屬性數(shù)據(jù),如面積、長軸、短軸等
3)操作快捷方便,提高工作效率,使工作安排簡單化可預(yù)測
4)圖像采集自由化,數(shù)據(jù)可存儲在網(wǎng)絡(luò)和 U 盤,便于分享、交流和參閱
5)導(dǎo)出統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)時(shí),可同時(shí)導(dǎo)出清晰圖片