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孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)

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掃描電鏡孔徑統(tǒng)計(jì)分析

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復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司(簡稱“復(fù)納科技”)于 2012 年在上海成立,聚焦荷蘭飛納臺式掃描電鏡在中國市場的推廣和應(yīng)用,涵蓋領(lǐng)域包括材料、鋰電新能源、半導(dǎo)體、生命科學(xué)和法醫(yī)檢測等。

截止目前,復(fù)納科技服務(wù)超過 2000 家飛納電鏡客戶和 100 家相關(guān)產(chǎn)品客戶,包括:清華大學(xué)、北京大學(xué)、復(fù)旦大學(xué)、上海交通大學(xué)、華南理工大學(xué)和中科院系統(tǒng)等高校科研單位;巴斯夫、寧德時(shí)代、微軟、默克和出入境檢驗(yàn)局等企事業(yè)單位。

2017 年開始,復(fù)納科技陸續(xù)與 7 家行業(yè)品牌建立了長期合作,致力于為中國高校、研究所、企業(yè)和政府用戶提供先進(jìn)可靠、高效智能的科學(xué)分析儀器、優(yōu)質(zhì)專業(yè)的服務(wù)和基于核心技術(shù)的解決方案。目前已引進(jìn)先進(jìn)的:DENSsolutions TEM原位樣品桿,飛納臺式掃描電鏡,NEOSCAN臺式高分辨顯微 CT,F(xiàn)orgeNano原子層沉積、 Technoorg Linda SEM/TEM樣品制備和VSParticle 納米氣溶膠沉積等設(shè)備。

十年以來,復(fù)納科技賦能中國科研創(chuàng)新、工業(yè)升級,人工智能檢測的使命也越來越清晰。

 

 

 

 

臺式掃描電鏡,SEM / TEM 樣品制備,ALD 原子層沉積,TEM 原位樣品桿,X 射線顯微 CT

孔徑尺寸范圍 100 nm – 0.1 mm 孔徑探測速度 高達(dá) 1000 個(gè)/分鐘
孔徑測量屬性 大小、形狀、數(shù)量

飛納掃描電鏡結(jié)合孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng),能夠輕松生成并分析掃描電鏡(SEM)圖像。一體化孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)能夠使用戶獲得孔徑的分布狀態(tài)、孔隙參數(shù)如孔徑尺寸和長寬比。全自動(dòng)化的孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)提供超越光學(xué)顯微鏡觀察水平的結(jié)果,帶來進(jìn)一步的探索和創(chuàng)新。生成報(bào)告時(shí),可以把柱狀圖和生成的圖像以選定的格式輸出。

孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)使用戶更好地了解材料特性,可以提取出完整的孔徑詳細(xì)信息。孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)拉開了孔徑測量軟件的大幕。在探究多孔結(jié)構(gòu)對材料孔隙率和過濾工藝的影響時(shí),這種分析尤其重要。

1)從飛納電鏡中直接獲取圖像

2)測量孔徑的屬性數(shù)據(jù),如面積、長軸、短軸等

3)操作快捷方便,提高工作效率,使工作安排簡單化可預(yù)測
4)圖像采集自由化,數(shù)據(jù)可存儲在網(wǎng)絡(luò)和 U 盤,便于分享、交流和參閱
5)導(dǎo)出統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)時(shí),可同時(shí)導(dǎo)出清晰圖片



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