軟X射線分析譜儀
- 公司名稱(chēng) 賽非特科學(xué)儀器(蘇州)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/9/1 21:21:58
- 訪問(wèn)次數(shù) 2408
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供貨周期 | 兩周 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,綜合 |
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軟X射線分析譜儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過(guò)組合新開(kāi)發(fā)的衍射光柵和高靈敏度X射線CCD相機(jī),實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。
和EDS一樣可以并行檢測(cè),并且能以0.3eV(費(fèi)米邊處Al-L基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析,超過(guò)了WDS的能量分辨率。軟X射線分析譜儀系統(tǒng)簡(jiǎn)介
最新開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)的分光系統(tǒng),不需移動(dòng)衍射光柵或檢測(cè)器(CCD)就能同時(shí)獲取不同能量的譜圖。而且由于能量分辨率很高,還可以采集狀態(tài)分析分佈圖
SXES、WDS、EDS的比較
各種分光方法中氮化鈦樣品的譜圖
即使在WDS分析中氮化鈦的譜峰也發(fā)生重疊,需要采取去卷積的數(shù)學(xué)方法處理。如下圖所示,SXES具有很高的能量分辨率。
比較表
鋰離子二次電池(LIB)分析實(shí)例
能觀察到LIB的充電量
充滿(mǎn)電后Li-K樣品的譜圖
說(shuō)明: 由于理論上的原因,氧化鋰的檢測(cè)很困難
輕元素的測(cè)試實(shí)例
SXES測(cè)試碳素化合物的實(shí)例
可以測(cè)試金剛石、石墨、聚合物的不同。
各種氮素化合物的測(cè)試實(shí)例
氮素也可以根據(jù)波形分析化學(xué)結(jié)合狀態(tài)。 硝酸鹽和氮化物的波形不同,還能觀察到易受電子束損傷的銨鹽的波形。
特征 | SXES | EPMA(WDS) | EDS |
分辨率 | 0.3 eV (費(fèi)米邊處 Al-L) | 8 eV (FWHM@Fe-K) | 120-130 eV (FWHM@Mn-K) |
化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析 | 可以 | 可以(主要是輕元素) | 不可以 |
并行檢測(cè) | 可以 | 不可以 (但分光譜儀臺(tái)數(shù)范圍即可) | 可以 |
分光晶體和檢測(cè)器 | 衍射光柵+CCD | 分光晶體+正比計(jì)數(shù)管 | SDD |
檢測(cè)器冷卻 | 珀?duì)柼鋮s | 不需要 | 珀?duì)柼鋮s |
檢測(cè)限(以B作為參考值) | 20ppm | 100ppm | 5000ppm |