HR-ER-CL 高分辨率光譜儀
- 公司名稱 KEWLAB-杭州秋籟科技有限公司
- 品牌 KEWLAB/澳洲
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/3/21 11:51:18
- 訪問次數(shù) 1713
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離心機,顯微鏡,磁力攪拌器,移液器,天平,混勻器,超聲波清洗機,冷水機,水分儀,里氏硬度計,工業(yè)內窺鏡,COD消解器,超聲波細胞破碎儀,激光光束分析儀,光源,積分球,光學系統(tǒng),光學棱鏡,光學透鏡,晶體光學,平面光學窗口和反射鏡基底等光學儀器和元件
應用領域 | 綜合 |
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HR-ER-CL 高分辨率光譜儀,采用高分辨率光機平臺,配置先進的線陣探測器,是一款結構緊湊、攜帶方便的微型光纖光譜儀。動態(tài)范圍最大可至10000:1,積分時間可達0.5ms, 同時信噪比提高到600:1,支持RS232/RS422通訊,增強了抗干擾性能,更適用于科研及工業(yè)生產(chǎn)的光譜測量應用,具有高靈敏度、高分辨率、高量子效率和高動態(tài)范圍的特點。
HR-ER-CL 高分辨率光譜儀的探測器覆蓋范圍為180-1100nm,用戶可以選擇不同的光柵配置,得到不同的光學分辨率和光譜響應范圍,以滿足不同的應用需求。另外針對其它波段380-900nm/300-1100nm/250-400nm等,可以提供OEM定制。
性能特點:
結構緊湊,便于攜帶與系統(tǒng)集成
交叉非對稱C-T光路結構,有效抑制雜散光
180~1100nm寬光譜響應均衡
高靈敏響應,實現(xiàn)弱光探測
多種狹縫、透鏡、光柵可選,搭配靈活
USB通信,即插即用,高速傳輸
支持二次開發(fā),支持OEM集成
應用領域:
激光器中心波長測量
透射/反射測量
輻射測量
吸光度測量
薄膜測量
顏色測量
熒光測量
激光光譜測量
太陽光譜測量
LIBS光譜測量
生化、醫(yī)學分析
農(nóng)業(yè)與食品檢測
水質分析檢測
探測器 | 濱松S11639線陣CMOS |
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波長范圍 | 200-1000nm |
工作溫度 | 5℃ -35℃(推薦溫度25℃) |
像素 | 2048像素,像元尺寸:14 µm×200 µm |
狹縫 | 5μm |
光學分辨率 | ~0.8nm |
信噪比 | 600:1全光譜 |
線性度 | >99% |
雜散光 | <0.1% (600nm, 435nm) |
A/D | 16 bit |
積分時間 | 0.5ms - 10s |
動態(tài)范圍 | 10000:1 |
功耗 | 250 mA, 5 VDC |
通信接口 | USB2.0(12Mbps) RS232(115200bps) |
外觸發(fā)模式 | 軟件觸發(fā),硬件觸發(fā),同步觸發(fā) |
光纖接口 | SMA905 |
電源 | USB 或 5VDC |
尺寸 | 140mm x 110mm x 46mm |
儀器重量 | 0.7 Kg |
微軟操作系統(tǒng) | Win XP, Win7,Win8, Win10 |