納米粒度及Zeta電位分析儀
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 澳譜特科技（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/1/19 18:24:13
- 訪問次數(shù) 3304
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細(xì)小，其表面的晶體結(jié)構(gòu)發(fā)生變化，從而在電學(xué)、光學(xué)和化學(xué)活性等方面表現(xiàn)出的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數(shù)，準(zhǔn)確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關(guān)鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩(wěn)定性的關(guān)鍵參數(shù)，Zeta電位越高，膠體系統(tǒng)就越穩(wěn)定，反之，Zeta電位越低，膠體系統(tǒng)穩(wěn)定性就越差，因此通過測量和調(diào)整體系的Zeta電位，就可以控制膠體的穩(wěn)定性。因此，廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量控制以及科學(xué)研究，以便深入了解產(chǎn)品特性。
| 技術(shù)類型 |
Zetatronix?939系列 查看詳情 采用多角度動態(tài)光散射技術(shù)，提供更高分辨率的粒度測量結(jié)果 |
采用背向動態(tài)光散射技術(shù)，可以測量高濃度樣品的粒度 |
采用經(jīng)典動態(tài)光散射技術(shù)測量粒度 |
| 經(jīng)典動態(tài)光散射（DLS） | √ | √ | |
| 背向動態(tài)光散射（BSDLS） | √ | √ | |
| 多角度動態(tài)光散射（MADLS） | √ | ||
| 測量角度 | 11°、90°、175° | 11°、175° | 11°、90° |
| 測量類型 | |||
| 粒度 | √ | √ | √ |
| Zeta電位 | √ | √ | √ |
| 分子量 | √ | √ | |
| 溫度/時(shí)間趨勢 | √ | √ | √ |
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