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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器>集成電路測試與分選設(shè)備>信號測試系統(tǒng)/半導(dǎo)體測試機(jī)>BW-3022A 高精度半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)

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BW-3022A 高精度半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


陜西博微電通科技有限責(zé)任公司是一家致力于高精度半導(dǎo)體測試設(shè)備、電力電子設(shè)備、電池安全管理系統(tǒng)及電力儲能解決方案的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高科技企業(yè)。

公司位于古城西安西咸新區(qū)灃東新城能源金貿(mào)區(qū),地理位置環(huán)境*,依托西安眾多高校及研究所,公司擁有一批高素質(zhì)人才隊(duì)伍,從軟件開發(fā)、硬件設(shè)計(jì)、系統(tǒng)集成、產(chǎn)品升級迭代及售后服務(wù)均由專業(yè)技術(shù)人員完成,多年來公司與深圳、西安、杭州等多家高科技企業(yè)合作開發(fā)出針對半導(dǎo)體測試、電力電子、能源管理系統(tǒng)系列產(chǎn)品,經(jīng)過技術(shù)迭代,產(chǎn)品功能全面,產(chǎn)品質(zhì)量可靠,市場口碑優(yōu)秀。

   公司注重產(chǎn)品質(zhì)量注重客戶服務(wù)滿意度及產(chǎn)品體驗(yàn),每一款產(chǎn)品出廠前都經(jīng)過嚴(yán)格的檢驗(yàn)或第三方機(jī)構(gòu)監(jiān)測,并持續(xù)優(yōu)化產(chǎn)品功能、根據(jù)客戶需求定制或迭代升級產(chǎn)品。我們秉承“博厚共贏、服務(wù)入微”理念竭誠為每一位客戶提供可靠的、高品質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù),幫助解決客戶實(shí)際使用痛點(diǎn),開發(fā)難點(diǎn),節(jié)約生產(chǎn)成本提高工作效率,助力行業(yè)發(fā)展。

半導(dǎo)體測試系統(tǒng):(Semiconductor test system)

針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半導(dǎo)體測試產(chǎn)品,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)測試計(jì)量、封裝測試、IDM測試、晶圓測試、DBC測試以及科研教學(xué)、智能電力、軌道交通、新能源汽車、白色家電等元器件應(yīng)用端產(chǎn)業(yè)鏈的來料檢驗(yàn)、器件選型及科研及院所、實(shí)驗(yàn)室的數(shù)據(jù)驗(yàn)證分析和研發(fā)指導(dǎo)等。

半導(dǎo)體測試設(shè)備可針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可進(jìn)行高精度靜態(tài)參數(shù)測試(包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù))測試精度可達(dá)16位ADC;動態(tài)雙脈沖(包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg)及Rg/UIS/SC/C/RBSOA測試等;環(huán)境老化測試(包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/間歇壽命IOL/功率循環(huán)PCT3000 )及熱特性測試(包括PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)半導(dǎo)體器件測試設(shè)備/雪崩耐量測試UIS、二極管浪涌測試IFSM、熱阻測試、晶閘管直流參數(shù)測試SCR、安全工作區(qū)正偏/反偏/短路安全工作區(qū)測試SOA,各類型探針臺、高精度高低溫箱及分立器件分選機(jī)系統(tǒng)等。

電池安全管理及儲能:(Battery safety management and energy storage system)

電池安全管理系統(tǒng)主要是針對電池、蓄電池組、儲能系統(tǒng)安全及應(yīng)用電池全生命周期系統(tǒng)解決方案,主要產(chǎn)品覆蓋儲能電池BMS、后備電池BMS、動力電池BMS和電池監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)平臺等,產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于儲能,云計(jì)算,數(shù)據(jù)中心,通信網(wǎng)絡(luò),軌道交通,以及商業(yè)和工業(yè)設(shè)施關(guān)鍵電源領(lǐng)域,將成為國家綠色能源轉(zhuǎn)型重要系統(tǒng)保障。

 

 

半導(dǎo)體測試設(shè)備,功率器件可靠性測試,熱特性安全測試,儲能及電力能源安全管理系統(tǒng)


BWDT-3022A

晶體管直流參數(shù)測試儀


一、產(chǎn)品基本信息

1)產(chǎn)品名稱及用途

產(chǎn)品名稱:BWDT-3022A 晶體管直流參數(shù)測試儀

產(chǎn)品用途:滿足電子元器件靜態(tài)直流參數(shù)測試需求

2)產(chǎn)品信息及規(guī)格環(huán)境

產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號:BWDT-3022A

產(chǎn)品名稱:晶體管直流參數(shù)測試儀;

物理規(guī)格

主機(jī)尺寸:深 305*寬 280*高 120(mm)

主機(jī)重量:<5Kg

主機(jī)顏色:白色系

電氣環(huán)境 主機(jī)功耗:<75W

環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作)

相對濕度:≯85%; 大氣壓力:86Kpa~106Kpa

防護(hù)條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導(dǎo)電粉塵等

電網(wǎng)要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz

工作時間:連續(xù);

二、產(chǎn)品介紹

        BWDT-3022A 型晶體管直流參數(shù)測試儀是專為測試電子元器件的直流參數(shù)而設(shè)計(jì)。 可測試三極管、MOS 場效應(yīng)管、J 型場效應(yīng)管、整流二極管、三端肖特基整流器、三端 電壓穩(wěn)壓器和基準(zhǔn)器 TL431,其良好的中文界面軟件,簡化了用戶對 BWDT-3022A 的操 作和編程。測試條件和測試參數(shù)一次快捷設(shè)定,并存入 EEPROM 中。不需附加任何其它 軟件,無需操作培訓(xùn),就可操作該儀器. BWDT-3022A 為三極管、MOS 場效應(yīng)管、J 型場效應(yīng)管、二極管等提供了 15 種最主 要參數(shù)的測試,以及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)測試,用戶通過機(jī)器上的按鍵很容易的把 測試條件輸入進(jìn)去,并將參數(shù)存入 EEPROM 中,便于日后方便且快速的打開調(diào)用。


三、產(chǎn)品特點(diǎn)

※ 大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單

※ 大容量 EEPROM 存儲器,儲存量可多達(dá) 2000 種設(shè)置型號數(shù).

※ 全部可編程的 DUT 恒流源和電壓源

※ 內(nèi)置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路

※ 高壓測試電流分辨率 1uA,測試電壓可達(dá) 1500V

※ 重復(fù)”回路”式測試解決了元件發(fā)熱和間歇的問題

※ 軟件自校準(zhǔn)功能

※ 產(chǎn)品基于大規(guī)模微處理器,當(dāng)用戶選定了設(shè)置好的型號時,在手動測試時,按下測試 開關(guān),使測試機(jī)開始執(zhí)行功能檢測,自動測試過程將在 BWDT-3022A 的測試座上檢測 DUT 短路,開路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測試。功能檢測主要目的是保護(hù)被測器件DUT 不因型號選錯而測壞

※ DUT 的功能檢測通過 LCD 顯示出被測器件/DUT 的類型(三極管,MOS 場管等),引腳 排列(P_XXX)測試方式(手動/自動)并繼續(xù)進(jìn)行循環(huán)測試,顯示測試結(jié)果是否合格,并有聲光 提示

※ 在測試整流二極管時,BWDT-3022A 能自動識別引腳功能,并自動轉(zhuǎn)換矩陣開關(guān)進(jìn) 行參數(shù)測試.測試后顯示對應(yīng)引腳功能號

※ 兩種工作模式

1、自動模式:自動檢測有無 DUT 放于測試座中,有則自動處于重復(fù)測試狀態(tài),無則處 于重復(fù)檢測狀態(tài); 2、手動模式:(剛開始未測試時屏幕白屏屬正?,F(xiàn)象);當(dāng)測試開關(guān)按下后自動對測 試座中的 DUT 進(jìn)行檢測測試,長按開關(guān)不松開則處于重復(fù)測試狀態(tài),松開開關(guān)則自動停止測試

四、測試種類及參數(shù)注釋

1、BJT/三極管

(1)Vbe:Ib:表示測試三極管 VBE 壓降時的輸入電流.

(2)Vce:Bv:表示測試三極管耐壓 BVceo 時輸入的測試電壓.

(3)Vce:Ir:表示測試三極管耐壓 BVceo 時輸入的測試電流.

(4)HEF:Ic:表示測試三極管直流放大倍數(shù)的集電極電流.

(5)HEF:Vce:表示測試三極管直流放大倍數(shù)的集電極電壓

(6)Vsat:Ib:表示測試三極管飽和導(dǎo)通壓降時輸入基極的電流.

(7)Vsat:Ic:表示測試三極管飽和導(dǎo)通壓降時輸入集電極的電流.

(8)Vb:表示三極管的輸入壓降 VBE.

(9)VCEO:表示三極管的耐壓(BVceo).

(10)HEF:表示三極管的直流放大倍數(shù)(HEF).

(11)Vsat:表示三極管的飽和導(dǎo)通壓降(VCEsat).

(12)TestModel:Auto :表示設(shè)置為自動識別測試.

(13)TestModel:Manual :表示設(shè)置為手動測試.

2、MOSFET/場效應(yīng)管

(1)Vth:ID:表示測試場效應(yīng)管柵極啟動電壓(Vgs(th))的輸入電流.

(2)Vds:Bv:表示測試場效應(yīng)管耐壓(BVdss)時的測試電壓.

(3)Vds:Ir:表示測試場效應(yīng)管耐壓(BVdss)時的測試電流.

(4)Rs:Vg:表示測試場效應(yīng)管內(nèi)阻(Rson)時加在柵極的電壓.

(5)Rs:ID:表示測試場效應(yīng)管內(nèi)阻(Rson)時的測試電流.

(6)Vth:表示場效應(yīng)管的啟動電壓(Vgs(th)).

(7)Bvds:表示場效應(yīng)管的耐壓(BVdss).

(8)Rs:表示場效應(yīng)管的導(dǎo)通內(nèi)阻(Rdson)

(9)Igss:OG:表示測試場管輸入端 G 極的電容漏電特性,該設(shè)置數(shù)據(jù)為延時時間數(shù),利 用延時設(shè)定時間后 VGS 電壓的保持量來測漏電特性。

(10)Test:T:表示測試多少次后就停止測試。可設(shè)定到 9999 次。

3JFTE/結(jié)型場效應(yīng)管

(1)Ids:Vd 表示測試結(jié)型場效應(yīng)管漏極飽和電流(Idss)加在 D 極和 S 極的電壓(Vds)

(2)Vds:Bv 表示測試結(jié)型場效應(yīng)管耐壓(BVdss)時的測試電壓.

(3)Vr:Ir 表示測試結(jié)型場效應(yīng)管耐壓(BVdss)時的測試電流.

(4)Voff:Vd 表示測試結(jié)型場效應(yīng)管阻斷電壓(Vgs(off))加在 D 極和 S 極的電壓(Vds).

(5)Voff:Id 表示測試結(jié)型場效應(yīng)管阻斷電壓(Vgs(off))加在 D 和 S 的電流.

(6)Is:表示結(jié)型場效應(yīng)管的漏源飽和電流(Idss),在 GS=0V 的條件下測得.

(7)Bvds:結(jié)型場效應(yīng)管在關(guān)斷時的擊穿電壓.

(8)Vof:結(jié)型場效應(yīng)管的阻斷電壓(VGS(off)).

(9)gm:結(jié)型場效應(yīng)管的跨導(dǎo)系數(shù),即導(dǎo)通內(nèi)阻的倒數(shù).

4、三端穩(wěn)壓 IC

(1)Vo:Vi 表示測試三端穩(wěn)壓時的輸入測試電壓.

(2)Vo:Vi 表示測試三端穩(wěn)壓時加在輸出端的負(fù)載電流

(3)Vo:表示三端穩(wěn)壓的輸出電壓數(shù).

5、基準(zhǔn) IC

(1)Vz:Iz 表示測試基準(zhǔn) IC 時的輸入測試電流.

(2)Vz:表示基準(zhǔn) IC 的穩(wěn)定電壓數(shù)

6、整流二極,三端肖特基整流器

(1)VF:IF 表示測試三端肖特正向壓降 VF 的測試電流.

(2)Vr:Bv 表示測試三端肖特反向耐壓(VRRM)的測試電壓.

(3)Ir:Fu 表示測試時反向漏電流參數(shù)是否要測,設(shè)大于 0 為開啟該項(xiàng)參數(shù)。

(4)Vr:Ir 表示測試三端肖特反向耐壓(VRRM)的測試電流.

(5)VF1:表示測試三端肖特正向壓降 1. (5)VF2:表示測試三端肖特正向壓降



                                          BW-3022A測試技術(shù)指標(biāo):


1 整流二極管,三端肖特基:

耐壓(VRR)測試指標(biāo)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-1600V

2V

+/-2%

0-2.000mA

導(dǎo)通正向壓降(VF)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

+/-2%

0-2.000A

、N型三極管

輸入正向壓降(Vbe)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

+/-2%

0-2.000A

耐壓(Bvceo)測試指標(biāo)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-1600V

2V

+/-5%

0-2.000mA

直流放大倍數(shù)(HEF)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-12000

1

+/-2%

0-2.000A(Ic) 0-20V(Vce)

輸出飽和導(dǎo)通壓降(Vsat)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

+/-2%

0-2.000A(Ib) 0-2.000A(Ic)

3、P型三極管

輸入正向壓降(Vbe)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

+/-2%

0-2.000A

耐壓(Bvceo)測試指標(biāo)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-1600V

2V

+/-5%

0-2mA

直流放大倍數(shù)(HEF)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-3000

1

+/-2%

100uA(Ib) 5V(Vce)固定




輸出飽和導(dǎo)通壓降(Vsat)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2V

2mV

+/-2%

0-2.000A(Ib) 0-2.000A(Ic)

4、N,PMOS場效應(yīng)管

輸入啟動電壓(VGS(th))

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-20.00V

20mV

+/-2%

0-2.000mA

耐壓(Bvds)測試指標(biāo)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-1500V

2V

+/-5%

0-2mA

導(dǎo)通內(nèi)阻(Rson)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-9999MR

0.1MR

+/-5%

0-20.00V(VGS)

0-2.000A(ID)

10R-100R

0.1R

+/-5%

0-20.00V(VGS)

0-2.000A(ID)

5、三端穩(wěn)壓IC

輸出電壓(Vo)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-20.00V

20mV

+/-2%

0-20.00V(VI)

0-1.000A(IO)

6、基準(zhǔn)IC 431

輸出電壓(Vo)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-20.00V

20mV

+/-2%

0-1A(Iz)

7、結(jié)型場效應(yīng)管

漏極飽和電流(Idss)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-40mA

40uA

+/-2%

0V(VGS)

0-20V(VDS)

40-400mA

400uA

+/-2%

0V(VGS)

0-20V(VDS)

耐壓(Bvds)測試指標(biāo)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-1600V

2V

+/-5%

0-2mA

夾斷電壓(Vgs(off))

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-20.00V

0.2V

+/-5%

0-20V(VDS)

0-2mA(ID)

共源正向跨導(dǎo)(gm)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-99mMHO

1mMHO

+/-5%

0V(VGS)

0-20V(VDS)


8、雙向可控硅

導(dǎo)通觸發(fā)電流(IGT)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-40.00mA

10uA

+/-2%

0-20.00V(VD) IT(0-2.000A)

導(dǎo)通觸發(fā)電壓(VGT)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mv

+/-2%

0-20.00V(VD) IT(0-2.000A)

耐壓(VDRM/VRRM)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-1500V

2V

+/-5%

0-2.000mA

通態(tài)壓降(VTM)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

+/-2%

0-2.000A(IT)

保持電流(IH)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-400mA

0.2mA

+/-5%

0-400Ma(IT)

 










化工儀器網(wǎng)

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