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C15993-01 濱松ODPL 測(cè)量系統(tǒng)C15993-01

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激光器,光譜儀,CCD,CMOS,EMCCD,相機(jī),探測(cè)器,濾光片

ODPL 測(cè)量系統(tǒng)使用積分球來測(cè)量全向光致發(fā)光光譜并確定樣品的發(fā)射效率。此過程是非破壞性和無接觸的,可以立即計(jì)算 IQE(內(nèi)部量子效率)。IQE 是 GaN 單晶體質(zhì)量評(píng)估所必需的,GaN 單晶體作為功率器件材料受到矚目。對(duì)鈣鈦礦晶體的質(zhì)量評(píng)估也有必要,預(yù)計(jì)這些元素有助于提高太陽能發(fā)電和 LED 的效率。

*ODPL:全向光致發(fā)光


產(chǎn)品指標(biāo):


應(yīng)用案例;

與半導(dǎo)體晶體類似,我們使用鈣鈦礦晶體,通過利用這些晶體的特性僅向上發(fā)射綠光,成功地從 ODPL 測(cè)量中計(jì)算 IQE。因此,IQE 至少達(dá)到 62.5%,我們發(fā)現(xiàn) IQE 會(huì)根據(jù)甲基銨離子的過量還是不足而大幅波動(dòng)。

ODPL measurement system Measurement example 2

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