YP-XM 小麥表型測(cè)量?jī)x

優(yōu)云譜小麥表型測(cè)量?jī)x

小麥育種研究中，小麥表型參數(shù)至關(guān)重要，小麥表型檢測(cè)儀可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長(zhǎng)、小穗數(shù)、總粒數(shù)和千粒重等指標(biāo)的測(cè)量，可多點(diǎn)快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。這些表型參數(shù)在小麥品種篩選、小麥產(chǎn)量預(yù)測(cè)、麥穗動(dòng)態(tài)發(fā)育、基因定位、功能解析和小麥遺傳育種中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。軟件集合多方面功能為一體，一站式解決小麥的表型參數(shù)測(cè)量問(wèn)題。廣泛適用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的小麥研究。

優(yōu)云譜小麥表型測(cè)量?jī)x應(yīng)用廣泛：

1、小麥畝穗數(shù)檢測(cè)合適時(shí)期： 小麥抽穗期、開(kāi)花期、灌漿期、成熟前期的小麥。

2、麥穗形態(tài)測(cè)量的時(shí)期：室內(nèi)考種時(shí)期：

3、小麥夾角測(cè)量時(shí)期：抽穗期、開(kāi)花期、灌漿期、乳熟期。

4、千粒重測(cè)量時(shí)期： 室內(nèi)考種時(shí)期。

5、小麥株高測(cè)量時(shí)期： 各個(gè)生育時(shí)期。

三、技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量范圍和誤差： 

1、小麥畝穗數(shù)測(cè)量誤差： ≤±5%。 

2、麥穗形態(tài)測(cè)量范圍：   5~20cm。

穗長(zhǎng)誤差：      ±2%。 

小穗數(shù)誤差：    ≤ 3個(gè)。 

3、小麥夾角測(cè)量范圍：   0-180°。   

作物粗：        0-5.2cm。 

夾角測(cè)量誤差：  +5%。 

4、作物莖粗測(cè)量誤差：   ±1%。 

5、千粒重測(cè)量誤差：     ±2%。 

6、株高測(cè)量范圍：       0.1-1.1m。 

測(cè)量誤差：      ±1%。