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EF550A-M50/ M58 輪廓形狀測定機

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 無錫浩輝者新材料科技有限公司
  • 品牌 KOSAKA/小坂研究所
  • 型號 EF550A-M50/ M58
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時間 2024/9/9 9:37:31
  • 訪問次數(shù) 390

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  • 無錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經(jīng)驗及對檢測設(shè)備及技術(shù)的研發(fā)與應(yīng)用,為客戶提供材料檢測分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術(shù),以及其性能限制,為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時,我們會幫助輔導客戶完成整個分析過程,得到客戶所需要的答案及結(jié)果。也可依顧客需求,提供完整專業(yè)的系統(tǒng)解決方案。目前服務(wù)于各大專院校、研究機構(gòu)、產(chǎn)業(yè)界研發(fā)單位和具備自主研發(fā)能力的大型企業(yè),期望對國內(nèi)外的科研及產(chǎn)業(yè)盡一份心力。

  •        浩輝者科技在過去服務(wù)對象中,成功建立了原位分析模式,如溫度、壓力與電位等之檢測分析平臺,用以了解相關(guān)材料在實際應(yīng)用操作下的物理化學特性。包含掃描探針顯微鏡、光學顯微鏡用以進行材料之表面型態(tài)以及表面物理特性分析;顯微三維掃描共軛焦拉曼光譜、顯微紅外光分析儀、X射線繞射儀用以進行材料之鍵結(jié)型態(tài)、官能基型態(tài)以及晶體結(jié)構(gòu)狀態(tài)分析;X射線熒光分析儀用以進行成分原素組成比例分析;熱重分析串接紅外光譜與氣相層析質(zhì)譜儀用以辨別化學結(jié)構(gòu)物質(zhì)之比例組成,透過不同溫度之熱裂解更可進一步了解材料內(nèi)部之相關(guān)添加物質(zhì),并結(jié)合鍵結(jié)型態(tài)、官能基型態(tài)以及晶體結(jié)構(gòu)狀態(tài)可進一步推廣至逆向工程檢測服務(wù)平臺。透過浩輝者科技的材料檢測分析與逆向工程分析儀器技術(shù)平臺,可得知各種材料的完整物理化學特性。

  •        由于科技不斷的創(chuàng)新進步,浩輝者也在積極地尋找并開發(fā)*的光譜&影像關(guān)鍵技術(shù)及All-in-one多功能產(chǎn)品提供給顧客,公司所有同仁更努力不懈求創(chuàng)新、求進步,期望能提供顧客優(yōu)質(zhì)的服務(wù)及質(zhì)量,并在未來與顧客共同成長茁壯。

 

光譜儀,偵測器,可攜式拉曼,熒光光譜系統(tǒng)

產(chǎn)地類別 進口 產(chǎn)品種類 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
價格區(qū)間 100萬-200萬 應(yīng)用領(lǐng)域 綜合

輪廓形狀測定機

● 搭載巨集解析功能為復雜解析作業(yè)提供省力方案。

● 可搬動,是設(shè)置自由度高的測定機。

● 即時輸出功能、測定完成後可在觸控屏上立即得到擴大形狀并進行解析。

● 可擴充連接輪廓形狀解析軟件、可以有更高度的解析。


輪廓形狀測定機

測定精度Z: 土(2.5+05 × IHI) um以下 H:變位(mm)
X: 士(2.5+0.02L) um以下 L:測定長度(mm)
分解能X:0.1um Z:0.25?m
取樣數(shù)/最小間隔Max 64,000點/Min 0.5um
測定范圍Z:30mm X:50mm
表示倍率縱(Z)、橫(X):1 ~2,000倍
直線度精度1.0um/100mm

無錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經(jīng)驗及對檢測設(shè)備及技術(shù)的研發(fā)與應(yīng)用,為客戶提供材料檢測分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術(shù),以及其性能限制,為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時,我們會幫助輔導客戶完成整個分析過程,得到客戶所需要的答案及結(jié)果。也可依顧客需求,提供完整專業(yè)的系統(tǒng)解決方案。目前服務(wù)于各大專院校、研究機構(gòu)、產(chǎn)業(yè)界研發(fā)單位和具備自主研發(fā)能力的大型企業(yè),期望對國內(nèi)外的科研及產(chǎn)業(yè)盡一份心力。

無錫浩輝者科技在過去服務(wù)對象中,成功建立了原位分析模式,如溫度、壓力與電位等之檢測分析平臺,用以了解相關(guān)材料在實際應(yīng)用操作下的物理化學特性。包含掃描探針顯微鏡、光學顯微鏡用以進行材料之表面型態(tài)以及表面物理特性分析;顯微三維掃描共軛焦拉曼光譜、顯微紅外光分析儀、X射線繞射儀用以進行材料之鍵結(jié)型態(tài)、官能基型態(tài)以及晶體結(jié)構(gòu)狀態(tài)分析;X射線熒光分析儀用以進行成分原素組成比例分析;熱重分析串接紅外光譜與氣相層析質(zhì)譜儀用以辨別化學結(jié)構(gòu)物質(zhì)之比例組成,透過不同溫度之熱裂解更可進一步了解材料內(nèi)部之相關(guān)添加物質(zhì),并結(jié)合鍵結(jié)型態(tài)、官能基型態(tài)以及晶體結(jié)構(gòu)狀態(tài)可進一步推廣至逆向工程檢測服務(wù)平臺。透過浩輝者科技的材料檢測分析與逆向工程分析儀器技術(shù)平臺,可得知各種材料的完整物理化學特性,并建立完整的材料認證體系。

由于科技不斷的創(chuàng)新進步,浩輝者也在積極地尋找并開發(fā)*的光譜&影像關(guān)鍵技術(shù)及All-in-one多功能產(chǎn)品提供給顧客,公司所有同仁更努力不懈求創(chuàng)新、求進步,期望能提供顧客優(yōu)質(zhì)的服務(wù)及質(zhì)量,并在未來與顧客共同成長茁壯。







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