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P501/P503 set Langer射頻耦合套組（IC測試系統(tǒng)）

參考價￥8.00
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P501/P503 set8.00元10 套可售

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射頻微波器件，EMC測試器件，SIM卡

產(chǎn)地類別 進口 應(yīng)用領(lǐng)域 電子

Langer射頻耦合套組（IC測試系統(tǒng)）

品牌：Langer EMV-Technik   

型號：P501/P503 set

Langer IEC 62132-4射頻注入功率到3GHz


Langer射頻耦合套組（IC測試系統(tǒng)）P501/P503 set介紹：

使用 Langer EMV-Technology 的探針測量的優(yōu)勢在使用 P500系列(P501，P502，P503)的探針進行抗擾測量期間，每個單獨的 IC 引腳(例如 QFP，QFN 封裝)甚至 BGA 的球可以單獨接觸并暴露于 RF。測量對應(yīng)于根據(jù) IEC 62132-4的 DPI 方法，其中通常連接在引腳處用于耦合 RF 的網(wǎng)絡(luò)包括在相應(yīng)的探針中。這使得測量的頻率范圍可以擴展到3GHz。此外，探針包含一個集成的電流和電壓測量，這使得 IC 的優(yōu)化以及應(yīng)用要求的定義成為可能。


Langer射頻耦合套組（IC測試系統(tǒng)）P501/P503 set配置:

1x P501, DPI耦合網(wǎng)絡(luò)（~3GHz，50V）

1x P503, DPI 耦合網(wǎng)絡(luò)（~1GHz，50V）

1x SMA-SMA 1 m ds

2x SMA-SMB 1 m ds

1x NT FRI EU

1x P500 case

1x P500 qg

1x P500 m



簡短的介紹：

P501型耦合網(wǎng)絡(luò)按照IEC 62132-4標(biāo)準(zhǔn)在集成電路引腳中進行射頻供電。當(dāng)施加干擾時能夠在集成的測量輸出端口分別測量電流和電壓。P501型耦合網(wǎng)絡(luò)工作時與一個功率放大器相連。

P501技術(shù)參數(shù).JPG


P503型耦合網(wǎng)絡(luò)按照IEC 62132-4標(biāo)準(zhǔn)在集成電路引腳中進行射頻供電。當(dāng)施加干擾時能夠在集成的測量輸出端口分別測量電流和電壓。P503型耦合網(wǎng)絡(luò)工作時與一個功率放大器相連。

P503技術(shù)參數(shù).JPG


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