Nano-IR3 納米紅外光譜儀
- 公司名稱 瑞科和利(北京)科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號 Nano-IR3
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/3/28 11:05:01
- 訪問次數(shù) 126
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價格區(qū)間 | 面議 | 儀器類型 | 實驗室型 |
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儀器種類 | 傅立葉變換型(FT) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),制藥,綜合 |
納米紅外光儀全面的納米級表征
nanoIR3 具有全面的納米級表征能力。波譜(POINTspectra)功能,單激光源可同時提供點波譜和化學(xué)成像,加快數(shù)據(jù)獲取,提升研究的成本效益。高波譜成像,能夠創(chuàng)建表面內(nèi)的 3D 波譜圖,幫助識別未知物,并導(dǎo)出另行處理。
Bruker 的共振增強 AFM-IR 模式
可提供高性能、高質(zhì)量的多樣化光譜,幫助識別納米級材料,深入了解材料的變化和成分。共振增強 AFM-IR 是靈敏度高的有機材料納米級光譜分析技術(shù)
Tapping AFM-IR 化學(xué)成像
nanoIR3 融合了技術(shù),依托多年行業(yè)的 Anasys AFM-IR 儀器開發(fā)經(jīng)驗,是性能強的納米級紅外。 Tapping AFM-IR 成像技術(shù)可以實現(xiàn)高空間分辨率的化學(xué)成像,同時提供優(yōu)質(zhì)紅外光譜。無論用戶是想獲得聚合物、薄膜、單層還是微納米污染物的化學(xué)成分,都能使用現(xiàn)有的 Tapping AFM-IR 光譜、化學(xué)成像和材料性能成像系統(tǒng)快速又輕松地獲得高分辨圖像,該系統(tǒng)適用于材料和生命科學(xué)應(yīng)用