平行平晶

產(chǎn)品類別：其他儀表

產(chǎn)品規(guī)格：平行平晶

產(chǎn)品型號：

是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。
具有高精度的平面性和平行性。
用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。共分四個系列，每個系列各分六組，每組四塊。功能：用于干涉法測量千分尺、卡規(guī)和千分表等測量面平面度、平面平行度。

技術(shù)參數(shù)1、平面平晶標準規(guī)格尺寸規(guī)格 30mm 45mm 60mm 80mm 100mm 150mm 200mm 250mm 直徑 Φ30 Φ45 Φ60 Φ80 Φ100 Φ150 Φ200 Φ250 高度 15mm 15mm 20mm 20mm 25mm 30mm 40mm 45mm 2、平面平晶制成精度：1級 3、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為： 直徑為 30至60mm 1級平晶 0.03μm 直徑為 80至150mm 1級平晶 0.05μm 更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值，根據(jù)國家標準。 4、平面平晶工作面的局部偏差允許值為： 0.03μm 5、平面平晶測量工作應在室溫2 0℃±3℃條件下保持數(shù)小時后進行。 注：Ф200mm以上標準平面平晶、環(huán)形平面平晶需定做。