導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀器
- 公司名稱(chēng) 南京大展檢測(cè)儀器有限公司
- 品牌 南京大展
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/4/7 14:45:44
- 訪問(wèn)次數(shù) 1139
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差示掃描量熱儀、熱重分析儀、同步熱分析儀、炭黑含量測(cè)試儀、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀和差熱分析儀等儀器的研發(fā)、制造。
產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍 | 0.0001—300W/m·k |
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 精確度 | ±3% |
儀器種類(lèi) | 瞬態(tài)平面熱源法 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,制藥,綜合 |
重復(fù)性 | ≤3% |
產(chǎn)品介紹:
DZDR-S導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀器是一款采用非穩(wěn)態(tài)法中的瞬態(tài)熱源法進(jìn)行測(cè)量,具有測(cè)量范圍廣,可測(cè)固體、液體、粉末、金屬、膠體、膏體、薄膜等,具有全新的外形設(shè)計(jì),簡(jiǎn)約小巧,具有測(cè)量速度快,操作簡(jiǎn)單,應(yīng)用范圍廣等優(yōu)勢(shì)。
測(cè)試范圍:
DZDR-S導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀可測(cè)量塊狀固體、膏狀固體、顆粒狀固體、膠體、液體、粉末、涂層、薄膜、保溫材料等不同材料。
測(cè)試方法:
DZDR-S導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀采用的是瞬態(tài)平面熱源技術(shù)(TPS),可用于各種不同類(lèi)型、不同形態(tài)材料的熱傳導(dǎo)性能的測(cè)試。瞬態(tài)平面熱源法是研究熱傳導(dǎo)性能方法中新型的一種,它使測(cè)量技術(shù)達(dá)到了一個(gè)新的水平。
性能優(yōu)勢(shì):
1、無(wú)須特別的樣品制備,對(duì)樣品形狀并無(wú)特殊要求,塊狀固體只需相對(duì)平滑的樣品表面并且滿(mǎn)足長(zhǎng)寬至少為探頭直徑的兩倍即可;
2、對(duì)樣品實(shí)行無(wú)損檢測(cè),意味著樣品可以重復(fù)使用;
3、探頭采用雙螺旋線的結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì),結(jié)合專(zhuān)屬數(shù)學(xué)模型,利用核心算法對(duì)探頭上采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計(jì)算;
4、樣品臺(tái)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)巧妙,操作方便,適合放置不同厚度的樣品,同時(shí)簡(jiǎn)潔美觀;
5、探頭上的數(shù)據(jù)采集使用了數(shù)據(jù)采集芯片,該芯片的高分辨率,能使測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠;
6、主機(jī)的控制系統(tǒng)使用了ARM微處理器,運(yùn)算速度比傳統(tǒng)的微處理器快,提高了系統(tǒng)的分析處理能力,計(jì)算結(jié)果更加準(zhǔn)確;
7、儀器可用于塊狀固體、膏狀固體、顆粒狀固體、膠體、液體、粉末、涂層、薄膜、保溫材料等熱物性參數(shù)的測(cè)定;
8、智能化的人機(jī)界面,彩色液晶屏顯示,觸摸屏控制,操作方便簡(jiǎn)潔。
技術(shù)參數(shù):
測(cè)試范圍 | 0.0001—300W/(m*K) |
測(cè)量溫度范圍 | 室溫—130℃(可拓展到-40~300℃) |
探頭直徑 | 一號(hào)探頭7.5mm;二號(hào)探頭15mm; 三號(hào)探頭50mm |
精度 | ±3% |
重復(fù)性誤差 | ≤3% |
測(cè)量時(shí)間 | 5~160秒 |
電源 | AC 220V |
整機(jī)功率 | <500w |
測(cè)試樣品功率P | 一號(hào)探頭功率0;二號(hào)探頭功率0 |
樣品規(guī)格 | 一號(hào)探頭所測(cè)樣品(≥15*15*3.75mm) 二號(hào)探頭所測(cè)樣品 (≥30*30*7.5mm) 三號(hào)探頭所測(cè)樣品 (≥50*50*7.5mm) (選配,也可以定制其他規(guī)格) |
定制粉末測(cè)試容器一套 |