EL-Lab 多通道電致發(fā)光特性測(cè)量系統(tǒng)
- 公司名稱(chēng) 東譜科技（廣州）有限責(zé)任公司
- 品牌 東譜
- 型號(hào) EL-Lab
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/10/27 15:48:27
- 訪問(wèn)次數(shù) 231
電致發(fā)光測(cè)試多通道測(cè)量（可拓展）全面的電致發(fā)光參數(shù)穩(wěn)定性（老化）測(cè)量外量子效率測(cè)量系統(tǒng)
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞：多通道電致器件穩(wěn)定性測(cè)試、多通道電致器件壽命測(cè)試、多通道電致器件老化、器件壽命測(cè)試、電致發(fā)光器件老化系統(tǒng)、OLED壽命測(cè)試系統(tǒng)、多通道OLED器件壽命測(cè)試系統(tǒng)、多通道發(fā)光器件穩(wěn)定性測(cè)量?jī)x、多通道老化測(cè)試系統(tǒng)、多通道OLED穩(wěn)定性測(cè)試系統(tǒng)、有機(jī)發(fā)光二極管(OLED)壽命測(cè)量系統(tǒng)
Product Keywords: Multi-channel electroinduced device stability test, multi-channel electroinduced device life Test, multi-channel electroinduced device aging, device life test, electroluminescent device aging system, OLED lifetime test system, multi-channel OLED device life Test system, multi-channel light-emitting device stability measuring instrument, multi-channel aging test system, multi-channel OLED stability test system Organic light-emitting diode (OLED) life measurement system
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
多通道電致發(fā)光特性測(cè)量系統(tǒng)EL-Lab是東譜科技 HiOE 綜合發(fā)光特性測(cè)量平臺(tái)中的重要成員，與東譜科技的電致發(fā)光特性測(cè)量系統(tǒng) HiYield 共同為行業(yè)提供了完善的電致發(fā)光的測(cè)量方案。該系統(tǒng)由一系列相應(yīng)的分布測(cè)量組件組成，包括光電測(cè)量模塊、亮度校準(zhǔn)模塊、光譜測(cè)量模塊等。利用該系統(tǒng)組件的分布特性，可以靈活搭建適用于不同類(lèi)型器件的測(cè)量系統(tǒng)。多通道電致發(fā)光特性測(cè)量系統(tǒng)EL-Lab可以便捷地?cái)U(kuò)展測(cè)量通道數(shù)量，且可以為不同的測(cè)試通道配備相同或者差異的測(cè)試功能，從而可以適應(yīng)豐富的測(cè)量場(chǎng)景，如批量測(cè)量、手套箱測(cè)量、變溫測(cè)量、老化測(cè)量等。
產(chǎn)品特點(diǎn)
□ 多通道批量測(cè)量；
□ 便捷擴(kuò)展測(cè)量通道數(shù)量；支持不同的測(cè)試通道配備相同或者差異的測(cè)試功能；獨(dú)立控溫、一體式控溫；軟件選擇快速判斷待測(cè)器件IV特性；恒流、恒壓、恒功率、恒EQE、恒亮度等多種老化模式；
□ 測(cè)試功能（IV、IVL、 IVλ ）；
□ V-t、I-t、L-t、J-t、W-t、PE-t、EQE-t、CE-t、PEt、CIE-t、λ-t、CCT-t、CRI-t、RGB-t等；
□ 可放進(jìn)手套箱內(nèi)測(cè)試；
□ 支持長(zhǎng)時(shí)間的多個(gè)器件的老化測(cè)試；
□ 支持寬溫度范圍的變溫測(cè)試；
□ 全面的電致發(fā)光測(cè)量參數(shù)。
關(guān)于測(cè)試通道：可靈活定制不同數(shù)量的測(cè)試通道和功能，如：
■ 總測(cè)試通道：6 個(gè)
■ IVL 測(cè)試通道：5 個(gè)
■ 光譜測(cè)試通道：1 個(gè)
■ 老化（穩(wěn)定性）測(cè)試通道：5 個(gè)
■ 變溫測(cè)試通道：選配
產(chǎn)品功能
□ 發(fā)光效率參數(shù)：外量子效率、電流效率、功率效率等；
□ 電學(xué)參數(shù)：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率密度等；
□ 輻射度學(xué)參數(shù)： 光譜功率分布、輻射通量、光視效能、主波長(zhǎng)等 ；
□ 光度學(xué)參數(shù)：亮度、光通量等；
□ 色度學(xué)參數(shù)： CIE 色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1、顯色指數(shù)等 ；
□ 器件老化參數(shù)：不同老化時(shí)間下的上述參數(shù)；
□ 變溫測(cè)量等。
規(guī)格參數(shù)
光電測(cè)量模塊 | 光譜測(cè)試模塊 | ||
波長(zhǎng)范圍 | 350-1100 nm | 波長(zhǎng)范圍 | 200-1100 nm |
峰值波長(zhǎng) | 970 nm | 積分時(shí)間 | 3.8 ms – 10 s |
靈敏度 | 0.725 A/W | 動(dòng)態(tài)范圍 | 3.4 x 10 ^6 (system); 1300:1 for a single acquisition |
有源面積 | 100 mm^2 | 雜散光 | <0.05% at 600 nm; <0.10% at 435 nm |
上升/下降時(shí)間 | 65 ns(632 nm, RL=50?, 5V) | 光學(xué)分辨率 | ~1.5 nm(FWHM) |
噪聲等效功率 | 2.07x10-13 W/√Hz（970 nm, 5 V） | 源表 | |
暗電流 | 600 nA (Max. 5V) | 參數(shù) | 電壓范圍-20 V~20 V；電流范圍-120 mA~120 mA； 分辨率 100 pA/0.1 mV |
結(jié)電容 | 375 pF (Typ. 5V) | ||
產(chǎn)品應(yīng)用
□ 量子點(diǎn)發(fā)光二極管（QLED）；
□ 有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）；
□ 發(fā)光二極管（LED）；
□ 鈣鈦礦發(fā)光二極管（PeLED）；
□ 其它各種類(lèi)型的電致發(fā)光器件。
EL-Lab拓展介紹
1、定義
多通道電致器件壽命測(cè)試是在統(tǒng)一的環(huán)境條件下，通過(guò)多個(gè)獨(dú)立的電學(xué)驅(qū)動(dòng)與光學(xué) / 電學(xué)監(jiān)測(cè)通道，對(duì)批量電致器件（如 LED、OLED、鈣鈦礦 LED）同時(shí)施加長(zhǎng)期電應(yīng)力（如恒定電流 / 電壓），動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)其關(guān)鍵性能參數(shù)（如亮度、效率、光譜）的衰減過(guò)程，最終量化器件壽命（如亮度衰減至初始值 50% 的時(shí)間 T50）及失效規(guī)律的測(cè)試方法。其核心價(jià)值在于 “批量并行測(cè)試” 與 “數(shù)據(jù)一致性對(duì)比”，大幅提升測(cè)試效率并降低個(gè)體差異對(duì)壽命評(píng)估的影響。
電致發(fā)光特性測(cè)試是通過(guò)電場(chǎng)激發(fā)材料產(chǎn)生光輻射的定量分析技術(shù)，主要用于評(píng)估光電材料的性能與可靠性。其核心是測(cè)量和分析材料在電場(chǎng)作用下產(chǎn)生的發(fā)光特性參數(shù)，包括發(fā)光效率、光譜特性、穩(wěn)定性及缺陷分析等關(guān)鍵指標(biāo)。
2、多通道電致發(fā)光特性測(cè)量系統(tǒng)在器件研究的應(yīng)用
（1）、電致發(fā)光器件的全面性能評(píng)估
系統(tǒng)可對(duì)各類(lèi)電致發(fā)光器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)量，包括：
發(fā)光效率參數(shù)：外量子效率(EQE)、電流效率、功率效率等
電學(xué)參數(shù)：電壓(V)、電流(I)、電流密度(J)、電功率密度等
輻射度學(xué)參數(shù)：光譜功率分布、輻射通量、光視效能、主波長(zhǎng)等
光度學(xué)參數(shù)：亮度、光通量等
色度學(xué)參數(shù)：CIE色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫(CCT)、顯色指數(shù)(CRI)等
（2）、電致發(fā)光器件壽命測(cè)試與評(píng)估
系統(tǒng)是評(píng)估OLED、QLED、PeLED等器件壽命的關(guān)鍵工具：
可同時(shí)對(duì)多個(gè)器件進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試，記錄不同老化時(shí)間點(diǎn)下的全面參數(shù)變化
為解決"影響OLED壽命的因素是多方面的、復(fù)雜的，往往不能準(zhǔn)確地把OLED老化歸咎于某一種老化機(jī)制，而是多種老化機(jī)制共同作用的結(jié)果"提供數(shù)據(jù)支持
通過(guò)全面參數(shù)監(jiān)測(cè)，幫助研究者同時(shí)解決多種老化機(jī)制對(duì)器件壽命的影響
（3）、電致發(fā)光器件研發(fā)與優(yōu)化
發(fā)光層厚度影響研究：如知識(shí)庫(kù)[3]中提到的"利用原子層沉積法在Y2O3包層中增強(qiáng)非晶態(tài)摻铞Al2O3納米醇酸酯薄膜的電致發(fā)光"研究
新材料開(kāi)發(fā)：用于量子點(diǎn)發(fā)光二極管(QLED)、有機(jī)發(fā)光二極管(OLED)、鈣鈦礦發(fā)光二極管(PeLED)等新型電致發(fā)光材料的性能測(cè)試
器件結(jié)構(gòu)優(yōu)化：通過(guò)測(cè)量不同結(jié)構(gòu)器件的發(fā)光效率、穩(wěn)定性等參數(shù)，指導(dǎo)器件設(shè)計(jì)優(yōu)化
（4）、變溫條件下的電致發(fā)光特性測(cè)量
支持寬溫度范圍的變溫測(cè)試(變溫測(cè)試通道為選配配置)
可獲取器件在不同溫度條件下的性能數(shù)據(jù)，評(píng)估溫度對(duì)器件性能的影響
3、產(chǎn)品主要測(cè)試功能特點(diǎn)
（1）、核心測(cè)試方法
多通道并行測(cè)試：同時(shí)對(duì)多個(gè)器件進(jìn)行電致發(fā)光特性測(cè)量，顯著提高測(cè)試效率
IVL測(cè)試：同時(shí)測(cè)量電流-電壓-亮度特性，獲取器件的電學(xué)和光學(xué)性能
老化測(cè)試：對(duì)器件進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)工作測(cè)試，記錄不同老化時(shí)間點(diǎn)的參數(shù)變化
變溫測(cè)試：在寬溫度范圍內(nèi)（-50℃~+150℃）測(cè)量器件性能，評(píng)估溫度對(duì)器件的影響
手套箱內(nèi)測(cè)試：在惰性氣體環(huán)境（如N?或Ar）中進(jìn)行測(cè)試，防止器件受氧氣和水分影響
（2）、測(cè)量技術(shù)
提供準(zhǔn)確的外量子效率(EQE)等發(fā)光效率參數(shù)
光譜分析：通過(guò)光譜測(cè)量模塊獲取器件的光譜功率分布和主波長(zhǎng)
輻射度學(xué)測(cè)量：精確測(cè)量輻射通量、光視效能等參數(shù)
色度學(xué)測(cè)量：精確測(cè)定CIE色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫(CCT)等色度參數(shù)
（3）、多通道并行測(cè)試能力
靈活配置：總計(jì)6個(gè)測(cè)試通道，包括5個(gè)IVL測(cè)試通道、1個(gè)光譜測(cè)試通道和5個(gè)老化（穩(wěn)定性）測(cè)試通道
定制化：用戶(hù)可根據(jù)具體需求定制不同數(shù)量和功能的通道組合
批量效率：支持同時(shí)測(cè)試多個(gè)器件，大幅提升測(cè)試效率，縮短研發(fā)周期
（4）、全面的測(cè)量參數(shù)
系統(tǒng)可精確測(cè)量以下參數(shù)：
發(fā)光效率參數(shù)：外量子效率(EQE)、電流效率、功率效率等
電學(xué)參數(shù)：電壓(V)、電流(I)、電流密度(J)、電功率密度等
輻射度學(xué)參數(shù)：光譜功率分布、輻射通量、光視效能、主波長(zhǎng)等
光度學(xué)參數(shù)：亮度、光通量等
色度學(xué)參數(shù)：CIE色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫(CCT)、MK-1、顯色指數(shù)(CRI)等
器件老化參數(shù)：記錄不同老化時(shí)間點(diǎn)下的上述所有參數(shù)變化
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