GLA639 高靈敏工業(yè)光譜儀
- 公司名稱 北京創(chuàng)譜科技有限公司
- 品牌
- 型號 GLA639
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/8/12 9:29:09
- 訪問次數(shù) 530
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LIBS光譜系統(tǒng),光譜水質(zhì)探頭,在線光譜分析,高光譜相機(jī),量子效率光譜,BRDF系統(tǒng),拉曼光譜,模塊與子系統(tǒng),服務(wù)與定制
按探測器 | CMOS | 光譜范圍 | 紫外,190-380nm/190-480nm/190-800nm/350-1000nm |
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光譜范圍 | 紫外,190-380nm/190-480nm/190-800nm/350-1000nm | 價格區(qū)間 | 面議 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,石油,電子,綜合 |
GLA639高靈敏工業(yè)光譜儀
GLA639高靈敏工業(yè)光譜儀穩(wěn)定可靠,還具有以下特征:
• Czerny-Turner光學(xué)結(jié)構(gòu)、光柵分光、線陣光電探測器、SMA905光纖接頭
• USB mini-B 接口和RS232接口與電腦相連,由電腦控制或供電
• 豐富的軟件功能,自動配置光譜儀、自動讀取校準(zhǔn)系數(shù)、光譜采集與測量的功能
• 光譜測量功能包括輻射、透過率、吸收率和反射率測量等
• 適合于工業(yè)控制的軟件接口
• 不同的顏色標(biāo)志光譜曲線上所選擇光譜數(shù)據(jù),包括游標(biāo)和區(qū)域邊界線,此功能幫助使用者在大量光譜數(shù)據(jù)中方便地查找數(shù)據(jù)
• 游標(biāo)用來查找波長,移動兩個區(qū)域邊界線可測量光譜寬度
• 軟件日志支持用戶記錄實(shí)驗(yàn)內(nèi)容,如所分析材料、操作者和時間
• 軟件顏色條幫助用戶理解光譜所對應(yīng)的顏色
• 批量生產(chǎn)的工業(yè)級光纖光譜儀特性:優(yōu)異的一致性、穩(wěn)定性和可靠性
在下列領(lǐng)域場景中,GLA639高靈敏工業(yè)光譜儀具有明顯優(yōu)勢:
• 環(huán)保檢測:氣體、水質(zhì)檢測
• 手機(jī)屏、膜、殼檢測(透過、反射、厚度、高度和顏色檢測等)
• 光學(xué)鍍膜、玻璃鏡片檢測
• 石油、化學(xué)工業(yè)材料
• 客戶定制等
此外我們還提供不同波段型號,實(shí)現(xiàn)您的不同需求:
項(xiàng)目 | 指標(biāo) | 備注 |
光纖接口 | SMA905 | |
入射狹縫 | 10, 25, 50, 100µm | 按需求選擇 |
波長范圍 | 190-380nm 190-480nm 190-800nm 350-1000nm 750-960nm | 與光柵有關(guān) |
光譜分辨率 | FWHM 0.27nm@Hg253nm@25µm slit FWHM 0.40nm@Hg253nm@25µm slit FWHM 0.94nm@Hg576nm@25µm slit FWHM 1.10nm@Hg576nm@25µm slit FWHM 0.50nm@811nm@25µm slit | 與波長和狹縫有關(guān) |
濾光片 | 消除高階光譜 | |
雜散光 | 0.10%@253nm 0.10%@253nm 0.18%@436nm 0.06%@436nm 0.30%@785nm | 與波長有關(guān) |
探測器 | 高性能探測器 | |
像素數(shù) | 2048 | |
像素大小 | 14μmx200μm | |
探測器透鏡 | 有 | |
信噪比 | 800:1 | 室溫下測量 |
AD轉(zhuǎn)換的分辨率 | 16 bits | |
積分時間 | 8 ms-15min | 與探測器有關(guān) |
數(shù)據(jù)輸出 | 灰度值隨波長或象素變化 | |
電源 | DC 5V/250mA | |
觸發(fā)模式 | TTL對外觸發(fā)或接收外部TTL觸發(fā) | |
通訊接口 | USB或RS232 | |
操作軟件 | SPEC-GLA600和TrSpecSoft | |
API | glaDevSys | 用于客戶開發(fā)軟件 |
尺寸 | 100mmx65mmx36mm | |
重量 | 285g | |
固定螺孔 | 4xM3底部螺孔 | |
工作溫度 | -10-50℃ | |
儲存溫度 | -20-70℃ |