APS04 開爾文探針

開爾文探針系統(tǒng)KP技術(shù)在使研究人員能夠改進其材料的特性方面處于Leading position地位。

我們的專業(yè)知識支持新興和材料技術(shù)的發(fā)展。

目前令人興奮的增長領(lǐng)域包括太陽能電池、鈣鈦礦、二維材料、石墨烯、oled、光伏和鉬的研究，然而這項技術(shù)可以應(yīng)用于許多科學領(lǐng)域

掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界最高分辨率的測試系統(tǒng)。

特性

•在空氣中光電發(fā)射功函數(shù)

•密度的狀態(tài)測量

•3.4 eV至7.0 eV能量范圍

•測量所有半導(dǎo)體波段

•開爾文探針接觸電位差

應(yīng)用領(lǐng)域：

•有機和非有機半導(dǎo)體

•金屬和金屬合金

•薄膜和表面氧化物

•太陽能電池和有機光伏

•腐蝕和納米技術(shù)