三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200

ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀

ContourX-200光學(xué)輪廓儀融合了高級(jí)表征、可定 制選項(xiàng)和易用性，可提供的快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的 非接觸式三維表面計(jì)量方法。該設(shè)備作為可用于計(jì)量的小尺寸系統(tǒng)，配置了大視場(chǎng)的5百萬(wàn)像素?cái)z像頭和新型電動(dòng)XY載物臺(tái)，可提供高性能的的2D/3D高分辨率測(cè)量功能。

ContourX-200還配有業(yè)界的操作和分析軟件Vision64®。最新的VisionXpress™提供了更易于使用的 界面和簡(jiǎn)潔的功能，可訪問(wèn)多種預(yù)編程濾鏡和分析工 具，用于精密加工的表面，薄膜，半導(dǎo)體，眼科，醫(yī)療設(shè)備，MEMS和摩擦學(xué)等領(lǐng)域的測(cè)量分析。

ContourX-200具有的Z軸分辨率和準(zhǔn)確性， 提供了布魯克專有的白光干涉儀（WLI）的所有業(yè)界的優(yōu)點(diǎn)，卻沒(méi)有傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡等產(chǎn)品的局限。

最高性能表面計(jì)量

• 與放大倍率無(wú)關(guān)的業(yè)界最好Z軸分辨率

• 最大尺寸的標(biāo)準(zhǔn)視場(chǎng)

• 穩(wěn)定集成防震設(shè)計(jì)

測(cè)量與分析功能

• 易于使用的界面，可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果

• 自動(dòng)化功能用于日常測(cè)量和分析

• 廣泛的濾鏡和分析工具選項(xiàng)，用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測(cè)量分析

• 滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報(bào)告

計(jì)量設(shè)備

基于超過(guò)四十年的專有WLI創(chuàng)新，ContourX-200光學(xué)輪廓儀展現(xiàn)出定量計(jì)量所需的低噪聲、高速、高精度的準(zhǔn)確結(jié)果。通 過(guò)使用多個(gè)鏡頭和集成的特征識(shí)別功能，設(shè)備可以在各種視 野內(nèi)以亞納米垂直分辨率跟蹤特征，從而提供不受放大倍數(shù)影響的結(jié)果，可用于各種不同行業(yè)中的質(zhì)量控制和過(guò)程監(jiān)控應(yīng)用。

ContourX-200對(duì)于反射率從0.05％到100％的各種表面都非 常易于測(cè)量。

分析能力

利用強(qiáng)大的VisionXpress和Vision64用戶界面，ContourX-200提供了上千種定制分析參數(shù)，以提高實(shí)驗(yàn)室和工廠車間的生產(chǎn)率。系統(tǒng)新攝像頭提供了更大視野，新型電動(dòng)XY平臺(tái)提供 了更靈活定位能力，為各種樣品和零件提供了更大的適用性和更高的測(cè)試通量。硬件和軟件組合提供了對(duì)高可重復(fù)性和高通量計(jì)量學(xué)測(cè)量功能的便捷訪問(wèn)，超過(guò)了同類計(jì)量設(shè)備的能力。